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2015年4月22日,中國科學儀器行業的“達沃斯論壇”——2015 (第九屆)中國科學儀器發展年會(ACCSI 2015)在北京京儀大酒店召開,會議主題為“創新創造價值”。天瑞儀器參加了本次大會,并在儀器風云榜頒獎盛典上榮獲2014科學儀器行業最具影響力廠商、HM-X200大氣重金屬在線分析儀獲2014科學儀器行業優秀新產品、天瑞儀器EDX P730手持式X熒光光譜儀獲2014科學儀器行業最受關注儀器,三項大獎。天瑞儀器董事長劉召貴博士出席了本次大會。
大會現場
企業高峰論壇
天瑞儀器董事長劉召貴博士與其他5位國內外知名科學儀器企業的高層做客“企業高峰論壇”,分別就“步入‘新常態’的中國經濟大環境將如何影響科學儀器市場?”、“為了應對當下我國乃至全球經濟發展中出現的新情況,業內標桿廠商正在或將要采取哪些新對策?”、“‘移動互聯網’、‘大數據’、‘云計算’等新技術的出現能否為科學儀器產業未來的運營模式帶來改變?”等議題進行了探討,給與會者帶來了更多對中國科學儀器行業前景的啟示。
天瑞儀器董事長劉召貴博士在企業高峰論壇現場
儀器風云榜頒獎盛典:天瑞儀器收獲三項大獎
4月22日晚間,儀器風云榜頒獎盛典如期而至。在本次盛典上,天瑞儀器分別榮獲三項大獎。
天瑞儀器獲2014科學儀器行業最具影響力廠商獎,天瑞儀器作為國產儀器的代表廠商,20多年來一直致力于將性價比更高的儀器、技術、服務帶給廣大消費者。天瑞儀器,也將繼續努力,發揮自己的業界影響力,讓更多人體會到國產儀器的魅力。
天瑞儀器獲2014科學儀器行業最具影響力廠商頒獎現場
HM-X200大氣重金屬在線分析儀榮獲2014科學儀器行業優秀新產品大獎,EHM-X200創新地將天瑞儀器專利技術—X熒光(XRF)無損檢測技術、β射線吸收檢測技術與空氣顆粒物自動富集技術完美結合。不僅可以檢測空氣顆粒物中重金屬的成分和濃度,還可以同時檢測顆粒物的質量濃度。該儀器具有pg/m3 量級的檢出限,處于世界先進水平,被廣泛應用于空氣質量監測、污染溯源及源解析、環境評價等領域。
HM-X200大氣重金屬在線分析儀榮獲2014科學儀器行業優秀新產品大獎
天瑞儀器EDX P730手持式X熒光光譜儀獲2014科學儀器行業最受關注儀器獎,EDX P730手持式X熒光光譜儀是天瑞儀器比較經典的手持式X熒光光譜儀。目前天瑞儀器的手持式x熒光光譜儀從Pocket、Genius、到Explorer已經經過多代發展,是天瑞儀器儀器集成化、小型化、智能化的代表產品。特別是最新手持X熒光光譜儀EXPLORER系列,產品引入了數字多道技術,檢出限更低,穩定性更高,適用面更廣,性能媲美臺式機;小巧便攜的體積使檢測工作更簡單、更輕松。
天瑞儀器EDX P730手持式X熒光光譜儀獲2014科學儀器行業最受關注儀器獎
天瑞分析測試儀器研究院下設三個中心,分別為“分析儀器研發中心”、“理化分析測試中心”和“分析測試技術應用開發中心”。 天瑞分析測試儀器研究院日前人員構成:院士1名,博士11名,高級工程師13名,碩士17名,知名大學本科研發人員50名。
劉召貴先生:清華大學核物理專業博士研究生畢業。先后被評為江蘇省優秀企業家、江蘇省有突出貢獻的中青年專家、昆山市首屆科技功臣、國家科技部“科技創新創業人才”。經國務院批準,享受國務院政府特殊津貼。
姚博士畢業于清華大學工程物理系核電子學專業博士研究生畢業,從事分析儀器開發26年,主要從事X熒光分析技術和應用技術等研究,并參與“十三五”國家重點儀器科技攻關,獲得“光譜儀光柵二維”發明專利、“X熒光雙彎晶固定元素道分光器”專利和“X熒光光譜分析儀的熱解石墨晶體分光器”專利等,并參與起草制定了多項國家標準行業標準,是我國X熒光光譜儀行業權威專家。
FP(基本參數)算法是X射線熒光光譜分析的有效方法,能夠在少標樣甚至無標樣的情況下對樣品元素成分進行定性定量分析,也可以對鍍層或鍍膜厚度進行分析。 眾所周知,X射線熒光分析最大問題是元素熒光強度會受到共存元素的影響(基體吸收和增強效應),與含量通常不是線性關系?;緟捣ㄔ诠庾V的計算過程中,已經考慮到了基體效應,可以得到計算含量與已知含量之間的線性關系,使用少數已知樣品校正算法去除系統誤差,即可達到精確定量的目的。
偏振二次靶激發技術能最大程度的去除散射背景,提高信噪比,降低檢測器的檢測限。假定由x-射線管陽極產生的x-射線是非偏振的且沿z軸方向入射到靶材(散射體)上,則沿y軸傳播的散射束即為線性偏振光。電場矢量在 v平面內振動,振動方向平行于X軸。放置在y軸上的樣品被偏振光激發,產生非偏振的熒光x-射線。因樣品和樣品支撐物在X軸方向上不產生散射輻射,將探測器放置在x軸上可充分利用偏振效應,降低彈性和非彈性散射x光子造成的本底。
由X射線發生器到達樣品,樣品受激發產生的X射線熒光到探測器的路線稱之為光路。光路經過的距離越短所受到的干擾就越少,天瑞儀器設計出超短光路技術,確保輕元素檢測結果的準確性,特別適合于RoHS環保無鹵指令檢測。
真正做到了微米級定位,微區掃描分析,空間微米級光斑的點對點對中及空間微焦斑位置的確定。一種平動與旋轉切換位置裝置,實現了小空間內的位置旋轉切換,避免了直線運動所需要的大空間以及常用旋轉運動,因為無法貼合導致的光程加長等問題。
XRF測試分析儀器一般都是采用針對標準樣本進行比對測試,在測試時受制于標樣的質量。天瑞儀器獨創無標樣技術,無需標樣即可進行全元素分析,引領行業發展趨勢和潮流。
XRF測試分析儀器一般都是采用針對標準樣本進行比對測試,在測試時受制于標樣的質量。天瑞儀器獨創無標樣技術,無需標樣即可進行全元素分析,引領行業發展趨勢和潮流。
天瑞獨有的信噪比增強技術,能有效的去除雜音信號干擾,最大限度降低元素檢出限,
如圖SUPER XRF 1050,對食品中Pb的測定 ,最低可達到0.59ppm。
天瑞專利的智能分析軟件,能夠對80種元素進行精準分析,無標樣定量分析,微區分析,薄膜分析,高級次譜線分析。
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