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2015年5月20日上午,北京出入境檢驗檢疫局實驗室主任王強一行來到天瑞儀器進行調研考察工作。王主任一行在天瑞儀器董事長劉召貴博士的陪同下先后參觀了天瑞儀器產品展廳、化學實驗室、精密加工中心、生產車間,詳細了解了天瑞儀器的發展歷史、公司經營以及主要產品等方面的情況。參觀過程中,王主任對天瑞儀器公司產品非常感興趣,仔細查看了各種儀器、配件、設備,還不時向劉博士詢問產品詳情。
參觀結束后,王主任一行又來到會議室。天瑞儀器工程師為前來考察調研的領導同志們介紹了天瑞發展歷程、產品構成、最新儀器的研制情況。天瑞儀器作為一家上市的分析儀器企業,歷經20余年發展,研發生產了一批優質國產儀器。這些分析儀器在各個行業發揮了重要作用。會議中,天瑞儀器研發人員與前來考察調研的領導同志們還就分析儀器行業的現況、未來發展等問題做了深度的交流,會議氣氛非常熱烈。
會上,王強主任也表示,此次天瑞之行,讓他對國產儀器刮目相看、對國產儀器的未來更有信心。經過這么多年的發展,國產儀器也發生了質的飛躍,一大批優質國產儀器脫引而出。除了傳統儀器之外,更多高端國產儀器也進入了市場,與老牌進口儀器一較高下。比如天瑞儀器的多款高端質譜產品從2012年亮相以來,獲得多方點贊。天瑞儀器另一款飛行時間質譜聯用儀,更是吹響了國產質譜向通用型高端質譜儀器進軍的號角。天瑞儀器這么多年來以自主研發為靈魂,掌握儀器的核心技術,擁有核心競爭力。王強主任也勉勵讓天瑞儀器繼續加快研發的腳步,讓國產儀器成為中國驕傲。
天瑞董事長劉召貴博士向王強主任介紹天瑞產業園情況
王強主任一行參觀天瑞儀器多媒體展廳
天瑞董事長劉召貴博士正在向王主任介紹天瑞自主研發的EHM-X200大氣重金屬在線分析儀
王強主任一行參觀天瑞儀器化學實驗室
王強主任一行參觀天瑞儀器精密加工中心
王強主任一行參觀天瑞儀器生產車間
參觀人員合影
天瑞分析測試儀器研究院下設三個中心,分別為“分析儀器研發中心”、“理化分析測試中心”和“分析測試技術應用開發中心”。 天瑞分析測試儀器研究院日前人員構成:院士1名,博士11名,高級工程師13名,碩士17名,知名大學本科研發人員50名。
劉召貴先生:清華大學核物理專業博士研究生畢業。先后被評為江蘇省優秀企業家、江蘇省有突出貢獻的中青年專家、昆山市首屆科技功臣、國家科技部“科技創新創業人才”。經國務院批準,享受國務院政府特殊津貼。
姚博士畢業于清華大學工程物理系核電子學專業博士研究生畢業,從事分析儀器開發26年,主要從事X熒光分析技術和應用技術等研究,并參與“十三五”國家重點儀器科技攻關,獲得“光譜儀光柵二維”發明專利、“X熒光雙彎晶固定元素道分光器”專利和“X熒光光譜分析儀的熱解石墨晶體分光器”專利等,并參與起草制定了多項國家標準行業標準,是我國X熒光光譜儀行業權威專家。
FP(基本參數)算法是X射線熒光光譜分析的有效方法,能夠在少標樣甚至無標樣的情況下對樣品元素成分進行定性定量分析,也可以對鍍層或鍍膜厚度進行分析。 眾所周知,X射線熒光分析最大問題是元素熒光強度會受到共存元素的影響(基體吸收和增強效應),與含量通常不是線性關系?;緟捣ㄔ诠庾V的計算過程中,已經考慮到了基體效應,可以得到計算含量與已知含量之間的線性關系,使用少數已知樣品校正算法去除系統誤差,即可達到精確定量的目的。
偏振二次靶激發技術能最大程度的去除散射背景,提高信噪比,降低檢測器的檢測限。假定由x-射線管陽極產生的x-射線是非偏振的且沿z軸方向入射到靶材(散射體)上,則沿y軸傳播的散射束即為線性偏振光。電場矢量在 v平面內振動,振動方向平行于X軸。放置在y軸上的樣品被偏振光激發,產生非偏振的熒光x-射線。因樣品和樣品支撐物在X軸方向上不產生散射輻射,將探測器放置在x軸上可充分利用偏振效應,降低彈性和非彈性散射x光子造成的本底。
由X射線發生器到達樣品,樣品受激發產生的X射線熒光到探測器的路線稱之為光路。光路經過的距離越短所受到的干擾就越少,天瑞儀器設計出超短光路技術,確保輕元素檢測結果的準確性,特別適合于RoHS環保無鹵指令檢測。
真正做到了微米級定位,微區掃描分析,空間微米級光斑的點對點對中及空間微焦斑位置的確定。一種平動與旋轉切換位置裝置,實現了小空間內的位置旋轉切換,避免了直線運動所需要的大空間以及常用旋轉運動,因為無法貼合導致的光程加長等問題。
XRF測試分析儀器一般都是采用針對標準樣本進行比對測試,在測試時受制于標樣的質量。天瑞儀器獨創無標樣技術,無需標樣即可進行全元素分析,引領行業發展趨勢和潮流。
XRF測試分析儀器一般都是采用針對標準樣本進行比對測試,在測試時受制于標樣的質量。天瑞儀器獨創無標樣技術,無需標樣即可進行全元素分析,引領行業發展趨勢和潮流。
天瑞獨有的信噪比增強技術,能有效的去除雜音信號干擾,最大限度降低元素檢出限,
如圖SUPER XRF 1050,對食品中Pb的測定 ,最低可達到0.59ppm。
天瑞專利的智能分析軟件,能夠對80種元素進行精準分析,無標樣定量分析,微區分析,薄膜分析,高級次譜線分析。
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