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“第十六屆北京分析測試學術報告會暨展覽會”（簡稱：BCEIA）于2015年10月27日在北京國家會議中心隆重開幕，本次大會由中華人民共和國科學技術部批準，中國分析測試協會主辦。兩年一度的BCEIA，是國內分析測試行業內知名度及專業度最高的盛會。
大會現場
開展第一天天瑞儀器就受到了行業專家、學者、同行及現場客戶的高度關注。天瑞儀器董事長劉召貴博士、總經理應剛先生率公司團隊親臨現場，與來訪者進行交流互動。
天瑞儀器展臺現場
董事長劉博士與來訪客戶現場交流
總經理應剛先生與來訪進行現場交流
天瑞儀器質譜事業部總經理周立博士與客戶現場交流
天瑞儀器光譜事業部總經理韋大綸與客戶現場交流
本次展品亮點多多，天瑞儀器全面展示了近兩年公司在新產品研發、產品升級、行業應用、解決方案制定等方面取得的豐碩成果。
天瑞質譜家族的新成員基質輔助激光解析-飛行時間質譜儀MALDI-TOF首次亮相展會，就成為了展臺現場的關注焦點，作為中國首款具有完全自主產權的商品化基質輔助激光解析/離子源-飛行時間質譜儀，Micro TyperMS的誕生開啟了國產生物質譜的新時代；歷經3年市場磨礪，2015年全新推出的ICP-MS 2000E，擁有全新的碰撞反應池功能、新型離子源設計、高效準確的自動進樣器、軟件集成應用分析包，極大的提升了儀器整體性能指標和性價比；備受業界廣泛認可的氣相色譜質譜聯用儀GC-MS 6800，在食品、紡織、RoHS、環境等多個領域的定制方案，更貼心的為客戶提供專業的一站式解決方案；國產化的GC-TOFMS系列iTOF-1G、iTOF-2G，具有高分辨率、高靈敏度和高采集速度的卓越性能，實現了飛行時間質譜與快速氣相色譜的完美對接；性能卓越、全新配備自動進樣器的液相色譜質譜聯用儀LC-MS1000；為糧食重金屬檢測量身打造的EDX 3200S plus C智能型食品重金屬快速檢測儀、電感耦合等離子體發射光譜儀ICP 3000、全新一代手持式X熒光光譜儀探索者EXPLORER，創新一體式設計的EHM-X200大氣重金屬分析儀等明星產品也都悉數登場。
天瑞儀器承擔的 “國家重大科學儀器設備開發專項”的WDX 4000順序式波長色散X熒光光譜儀也受邀來到“國家重大科學儀器設備開發專項階段成果展”展示區參加展示。
天瑞工程師給客戶介紹WDX4000
27日晚間，由江蘇天瑞儀器股份有限公司和廈門質譜儀器儀表有限公司聯合研發生產的基質輔助激光解析-飛行時間質譜儀MALDI-TOF喜獲2015BCEIA金獎。
基質輔助激光解析-飛行時間質譜儀MALDI-TOF喜獲2015BCEIA金獎
廈門質譜何堅教授給客戶介紹基質輔助激光解析-飛行時間質譜儀MALDI-TOF
天瑞工程師指導客戶現場操作EXPLORER
天瑞工作人員為客戶介紹產品
天瑞分析測試儀器研究院下設三個中心，分別為“分析儀器研發中心”、“理化分析測試中心”和“分析測試技術應用開發中心”。 天瑞分析測試儀器研究院日前人員構成：院士1名，博士11名，高級工程師13名，碩士17名，知名大學本科研發人員50名。
劉召貴先生：清華大學核物理專業博士研究生畢業。先后被評為江蘇省優秀企業家、江蘇省有突出貢獻的中青年專家、昆山市首屆科技功臣、國家科技部“科技創新創業人才”。經國務院批準，享受國務院政府特殊津貼。
姚博士畢業于清華大學工程物理系核電子學專業博士研究生畢業，從事分析儀器開發26年，主要從事X熒光分析技術和應用技術等研究，并參與“十三五”國家重點儀器科技攻關，獲得“光譜儀光柵二維”發明專利、“X熒光雙彎晶固定元素道分光器”專利和“X熒光光譜分析儀的熱解石墨晶體分光器”專利等，并參與起草制定了多項國家標準行業標準，是我國X熒光光譜儀行業權威專家。
FP（基本參數）算法是X射線熒光光譜分析的有效方法，能夠在少標樣甚至無標樣的情況下對樣品元素成分進行定性定量分析，也可以對鍍層或鍍膜厚度進行分析。 眾所周知，X射線熒光分析最大問題是元素熒光強度會受到共存元素的影響（基體吸收和增強效應），與含量通常不是線性關系?；緟捣ㄔ诠庾V的計算過程中，已經考慮到了基體效應，可以得到計算含量與已知含量之間的線性關系，使用少數已知樣品校正算法去除系統誤差，即可達到精確定量的目的。
偏振二次靶激發技術能最大程度的去除散射背景，提高信噪比，降低檢測器的檢測限。假定由x-射線管陽極產生的x-射線是非偏振的且沿z軸方向入射到靶材(散射體)上，則沿y軸傳播的散射束即為線性偏振光。電場矢量在 v平面內振動，振動方向平行于X軸。放置在y軸上的樣品被偏振光激發，產生非偏振的熒光x-射線。因樣品和樣品支撐物在X軸方向上不產生散射輻射，將探測器放置在x軸上可充分利用偏振效應，降低彈性和非彈性散射x光子造成的本底。
由X射線發生器到達樣品，樣品受激發產生的X射線熒光到探測器的路線稱之為光路。光路經過的距離越短所受到的干擾就越少，天瑞儀器設計出超短光路技術，確保輕元素檢測結果的準確性，特別適合于RoHS環保無鹵指令檢測。
真正做到了微米級定位，微區掃描分析，空間微米級光斑的點對點對中及空間微焦斑位置的確定。一種平動與旋轉切換位置裝置，實現了小空間內的位置旋轉切換，避免了直線運動所需要的大空間以及常用旋轉運動，因為無法貼合導致的光程加長等問題。
XRF測試分析儀器一般都是采用針對標準樣本進行比對測試，在測試時受制于標樣的質量。天瑞儀器獨創無標樣技術，無需標樣即可進行全元素分析，引領行業發展趨勢和潮流。
XRF測試分析儀器一般都是采用針對標準樣本進行比對測試，在測試時受制于標樣的質量。天瑞儀器獨創無標樣技術，無需標樣即可進行全元素分析，引領行業發展趨勢和潮流。
天瑞獨有的信噪比增強技術，能有效的去除雜音信號干擾，最大限度降低元素檢出限，
如圖SUPER XRF 1050，對食品中Pb的測定 ，最低可達到0.59ppm。
天瑞專利的智能分析軟件，能夠對80種元素進行精準分析，無標樣定量分析，微區分析，薄膜分析，高級次譜線分析。
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