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2016年7月28日，“2016天瑞儀器合作伙伴峰會” 在昆山皇冠國際會展酒店順利召開。此次峰會為期兩天，天瑞儀器董事長劉召貴博士、副總經理黎橋先生、以及來自全國各地的天瑞儀器合作伙伴參加了此次峰會。此次峰會以“合作共贏 共成長”為主題，旨在通過此次峰會加深天瑞儀器與合作伙伴的合作關系，增進了解、促進交流，共同發展。
黎橋副總經理開場致辭
28日上午9點，在天瑞儀器副總經理黎橋的熱情開場下，本次合作伙伴峰會正式拉開了帷幕。隨后，天瑞儀器董事長劉召貴博士致辭，劉博士首先對出席此次峰會的合作伙伴代表表示熱烈歡迎， 對全國各地合作伙伴長期以來對公司的大力支持和辛勤努力表示衷心的感謝。希望通過此次峰會能夠讓更多合作伙伴全面深入的了解天瑞儀器，增進互信，與天瑞儀器一起實現合作共贏。劉博士以其幽默風趣的語言和充滿激情的致辭贏得臺下陣陣掌聲。 (關鍵詞：手持式光譜儀|手持式合金分析儀)
劉召貴博士的精彩致辭
此次峰會還特邀了天瑞儀器的多年合作伙伴，武漢天虹環保產業股份有限公司陸錦潤副總經理及東莞市四通環境科技有限公司袁建洋總經理作為合作伙伴代表，在峰會上發表講話。
武漢天虹環保產業股份有限公司陸總在發言中表示：國產儀器經過這些年的迅猛發展，在很多產品的技術上都不遜于進口儀器，國人的“外國的月亮比較圓”的思想需要改一改。天虹環保與天瑞儀器保持了多年的合作友誼，天瑞儀器在業內也良好的口碑和極高的品質保證。東莞市四通環境科技有限公司袁建洋總經理也在發言中表達了對天瑞儀器的肯定和共創未來的美好信心。
武漢天虹環保產業股份有限公司陸錦潤副總經理
東莞市四通環境科技有限公司袁建洋總經理
下午，在劉召貴博士的帶領下，攜所有合作伙伴一同參觀了天瑞儀器總公司。細致而又全面的向所有合作伙伴介紹了天瑞儀器包括展廳儀器，各部門介紹，產品生產、研發、監測等諸多領域。
劉博士為合作伙伴介紹天瑞儀器公司
劉博士在展廳內自豪的為大家介紹公司產品
第二天，天瑞儀器各個事業部總經理及天瑞環境劉祥虎博士為參會的合作伙伴們詳細的介紹了天瑞儀器相關產品在各個領域內的應用情況，并開展了一對一的交流活動。
環保事業部總經理方軍為大家做環保產品介紹
天瑞環境劉祥虎博士為大家做環境水處理工程介紹
光譜事業部總經理李勝輝為大家介紹光譜事業部產品
質譜事業部總經理周立為大家介紹質譜事業部產品
XRF事業部總經理吳敏為大家介紹XRF事業部應用領域及產品
“一對一”交流活動中合作伙伴提問
天瑞分析測試儀器研究院下設三個中心，分別為“分析儀器研發中心”、“理化分析測試中心”和“分析測試技術應用開發中心”。 天瑞分析測試儀器研究院日前人員構成：院士1名，博士11名，高級工程師13名，碩士17名，知名大學本科研發人員50名。
劉召貴先生：清華大學核物理專業博士研究生畢業。先后被評為江蘇省優秀企業家、江蘇省有突出貢獻的中青年專家、昆山市首屆科技功臣、國家科技部“科技創新創業人才”。經國務院批準，享受國務院政府特殊津貼。
姚博士畢業于清華大學工程物理系核電子學專業博士研究生畢業，從事分析儀器開發26年，主要從事X熒光分析技術和應用技術等研究，并參與“十三五”國家重點儀器科技攻關，獲得“光譜儀光柵二維”發明專利、“X熒光雙彎晶固定元素道分光器”專利和“X熒光光譜分析儀的熱解石墨晶體分光器”專利等，并參與起草制定了多項國家標準行業標準，是我國X熒光光譜儀行業權威專家。
FP（基本參數）算法是X射線熒光光譜分析的有效方法，能夠在少標樣甚至無標樣的情況下對樣品元素成分進行定性定量分析，也可以對鍍層或鍍膜厚度進行分析。 眾所周知，X射線熒光分析最大問題是元素熒光強度會受到共存元素的影響（基體吸收和增強效應），與含量通常不是線性關系?；緟捣ㄔ诠庾V的計算過程中，已經考慮到了基體效應，可以得到計算含量與已知含量之間的線性關系，使用少數已知樣品校正算法去除系統誤差，即可達到精確定量的目的。
偏振二次靶激發技術能最大程度的去除散射背景，提高信噪比，降低檢測器的檢測限。假定由x-射線管陽極產生的x-射線是非偏振的且沿z軸方向入射到靶材(散射體)上，則沿y軸傳播的散射束即為線性偏振光。電場矢量在 v平面內振動，振動方向平行于X軸。放置在y軸上的樣品被偏振光激發，產生非偏振的熒光x-射線。因樣品和樣品支撐物在X軸方向上不產生散射輻射，將探測器放置在x軸上可充分利用偏振效應，降低彈性和非彈性散射x光子造成的本底。
由X射線發生器到達樣品，樣品受激發產生的X射線熒光到探測器的路線稱之為光路。光路經過的距離越短所受到的干擾就越少，天瑞儀器設計出超短光路技術，確保輕元素檢測結果的準確性，特別適合于RoHS環保無鹵指令檢測。
真正做到了微米級定位，微區掃描分析，空間微米級光斑的點對點對中及空間微焦斑位置的確定。一種平動與旋轉切換位置裝置，實現了小空間內的位置旋轉切換，避免了直線運動所需要的大空間以及常用旋轉運動，因為無法貼合導致的光程加長等問題。
XRF測試分析儀器一般都是采用針對標準樣本進行比對測試，在測試時受制于標樣的質量。天瑞儀器獨創無標樣技術，無需標樣即可進行全元素分析，引領行業發展趨勢和潮流。
XRF測試分析儀器一般都是采用針對標準樣本進行比對測試，在測試時受制于標樣的質量。天瑞儀器獨創無標樣技術，無需標樣即可進行全元素分析，引領行業發展趨勢和潮流。
天瑞獨有的信噪比增強技術，能有效的去除雜音信號干擾，最大限度降低元素檢出限，
如圖SUPER XRF 1050，對食品中Pb的測定 ，最低可達到0.59ppm。
天瑞專利的智能分析軟件，能夠對80種元素進行精準分析，無標樣定量分析，微區分析，薄膜分析，高級次譜線分析。
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