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7月19日,江蘇省企業知識產權戰略推進計劃重點項目(蘇州)示范現場會在昆山召開。會議由江蘇省知識產權局主辦,蘇州市知識產權局、昆山市知識產權局、江蘇天瑞儀器股份有限公司等承辦。蘇州市知識產權局有關領導和部分縣市知識產權局相關負責人、知識產權中介機構負責人、高端裝備制造領域企業的高層管理人員和知識產權主管人員、昆山市企業知識產權管理人員等160余人參加會議。
會議現場
本次示范現場會為期一天。會上,昆山市科技局副局長陳嵐表示,自該項目啟動以來,對推進知識產權強省建設起到了重要的促進作用。通過幾年的實施,企業的知識產權意識得到迅速增強,涌現出一批具備知識產權戰略管理理念、知識產權創造運用保護和管理能力全面發展、知識產權綜合競爭優勢突出、具有行業影響力和地區輻射作用的知名企業。天瑞儀器便是其中的佼佼者。
昆山市科技局副局長陳嵐發言
作為重點項目承擔單位,天瑞儀器知識產權總監周曉輝在會上作了關于“專利布局、專利質量在專利維權過程中的重要性”的經驗分享,周總監介紹了天瑞儀器近年來的知識產權成果,并通過實際案列闡述了實施知識產權戰略中的維權方法與成效。
天瑞儀器知識產權總監分享經驗
此外,與會嘉賓代表從知識產權分析評議與風險防范到信息化管理平臺運用與侵權風險防范,再到海外專利的布局策略和運用方法,一一做了經驗分享。國家專利局審查江蘇中心審查業務部副主任危峰作了關于“高價值專利布局及運營”的介紹,知識產權服務專家楊林潔與王琦分別作了《科技人才型企業知識產權戰略規劃》與《全流程的專利組合評估方法及運用》的介紹。
嘉賓代表合影留念
此次示范現場會的成功舉辦,進一步增強了參會企業知識產權戰略實施意識,促進了企業經營發展與知識產權戰略的深度融合,獲得了參會人員的一致好評。
作為高新技術企業,天瑞儀器一直十分重視知識產權戰略的實施,切實建立起了知識產權制度,把知識產權貫穿于企業研發、生產、營銷等各個環節,為加快知識產權強省建設、助推經濟結構調整和產業轉型升級做出了突出貢獻。截止2016年年底,天瑞儀器及其子公司已獲得授權專利215項,計算機軟件著作權91項,軟件產品證書58項。
天瑞分析測試儀器研究院下設三個中心,分別為“分析儀器研發中心”、“理化分析測試中心”和“分析測試技術應用開發中心”。 天瑞分析測試儀器研究院日前人員構成:院士1名,博士11名,高級工程師13名,碩士17名,知名大學本科研發人員50名。
劉召貴先生:清華大學核物理專業博士研究生畢業。先后被評為江蘇省優秀企業家、江蘇省有突出貢獻的中青年專家、昆山市首屆科技功臣、國家科技部“科技創新創業人才”。經國務院批準,享受國務院政府特殊津貼。
姚博士畢業于清華大學工程物理系核電子學專業博士研究生畢業,從事分析儀器開發26年,主要從事X熒光分析技術和應用技術等研究,并參與“十三五”國家重點儀器科技攻關,獲得“光譜儀光柵二維”發明專利、“X熒光雙彎晶固定元素道分光器”專利和“X熒光光譜分析儀的熱解石墨晶體分光器”專利等,并參與起草制定了多項國家標準行業標準,是我國X熒光光譜儀行業權威專家。
FP(基本參數)算法是X射線熒光光譜分析的有效方法,能夠在少標樣甚至無標樣的情況下對樣品元素成分進行定性定量分析,也可以對鍍層或鍍膜厚度進行分析。 眾所周知,X射線熒光分析最大問題是元素熒光強度會受到共存元素的影響(基體吸收和增強效應),與含量通常不是線性關系?;緟捣ㄔ诠庾V的計算過程中,已經考慮到了基體效應,可以得到計算含量與已知含量之間的線性關系,使用少數已知樣品校正算法去除系統誤差,即可達到精確定量的目的。
偏振二次靶激發技術能最大程度的去除散射背景,提高信噪比,降低檢測器的檢測限。假定由x-射線管陽極產生的x-射線是非偏振的且沿z軸方向入射到靶材(散射體)上,則沿y軸傳播的散射束即為線性偏振光。電場矢量在 v平面內振動,振動方向平行于X軸。放置在y軸上的樣品被偏振光激發,產生非偏振的熒光x-射線。因樣品和樣品支撐物在X軸方向上不產生散射輻射,將探測器放置在x軸上可充分利用偏振效應,降低彈性和非彈性散射x光子造成的本底。
由X射線發生器到達樣品,樣品受激發產生的X射線熒光到探測器的路線稱之為光路。光路經過的距離越短所受到的干擾就越少,天瑞儀器設計出超短光路技術,確保輕元素檢測結果的準確性,特別適合于RoHS環保無鹵指令檢測。
真正做到了微米級定位,微區掃描分析,空間微米級光斑的點對點對中及空間微焦斑位置的確定。一種平動與旋轉切換位置裝置,實現了小空間內的位置旋轉切換,避免了直線運動所需要的大空間以及常用旋轉運動,因為無法貼合導致的光程加長等問題。
XRF測試分析儀器一般都是采用針對標準樣本進行比對測試,在測試時受制于標樣的質量。天瑞儀器獨創無標樣技術,無需標樣即可進行全元素分析,引領行業發展趨勢和潮流。
XRF測試分析儀器一般都是采用針對標準樣本進行比對測試,在測試時受制于標樣的質量。天瑞儀器獨創無標樣技術,無需標樣即可進行全元素分析,引領行業發展趨勢和潮流。
天瑞獨有的信噪比增強技術,能有效的去除雜音信號干擾,最大限度降低元素檢出限,
如圖SUPER XRF 1050,對食品中Pb的測定 ,最低可達到0.59ppm。
天瑞專利的智能分析軟件,能夠對80種元素進行精準分析,無標樣定量分析,微區分析,薄膜分析,高級次譜線分析。
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