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又是一年金秋時節，由中國分析測試協會主辦的北京分析測試學術報告會暨展覽會(簡稱“BCEIA”)將于10月9日——13日在北京國家會議中心盛大召開，而你們的老朋友——天瑞儀器也將如期和大家見面，展位號為32067-32074。
▲天瑞儀器展位效果圖
這一次，天瑞儀器將展出EXPLORER9000手持式土壤重金屬分析儀、Cube 100便攜式測金儀、EDX3200SPLUS-X 食品重金屬快速檢測儀、ICP-3200S全譜直讀電感耦合等離子體發射光譜儀 、GC-MS 6800S氣相色譜質譜聯用儀、ICP-MS 2000E電感耦合等離子體質譜儀、TIC-600能量色散X熒光光譜儀、BIO 3000水質毒性分析儀以及HM-5000P便攜式重金屬分析儀等人氣產品。展出儀器適用于環境保護、食品安全、實驗室檢測、珠寶首飾以及電子電器等多個領域。
屆時，天瑞儀器全新氣相色譜質譜聯用儀GC-MS 6800 Premium也將首次公開亮相。該產品匯集了天瑞儀器質譜事業部多年質譜儀研發經驗，在原有GC-MS系列質譜儀基礎上，突破技術難點，大幅度增強儀器性能，提高儀器檢測效率。該儀器創新性地使用了Cleanquad潔凈預四極桿技術，降低了非質量選擇離子的干擾，顯著提高了質譜信號信噪比；全新設計的高速數據采集卡配合優化后的射頻電源，使質譜掃描速度和質量范圍得到進一步提升。GC-MS 6800 Premium還有哪些精彩亮點？歡迎您親臨現場，了解詳情。
▲氣相色譜質譜聯用儀GC-MS 6800 Premium
展會現場，天瑞儀器技術人員將為您提供專業的技術支持與優質的貼心服務，歡迎前往32067-32074展臺參觀咨詢。更有精彩活動與精美禮品等著你，我們期待您的參與。
天瑞分析測試儀器研究院下設三個中心，分別為“分析儀器研發中心”、“理化分析測試中心”和“分析測試技術應用開發中心”。 天瑞分析測試儀器研究院日前人員構成：院士1名，博士11名，高級工程師13名，碩士17名，知名大學本科研發人員50名。
劉召貴先生：清華大學核物理專業博士研究生畢業。先后被評為江蘇省優秀企業家、江蘇省有突出貢獻的中青年專家、昆山市首屆科技功臣、國家科技部“科技創新創業人才”。經國務院批準，享受國務院政府特殊津貼。
姚博士畢業于清華大學工程物理系核電子學專業博士研究生畢業，從事分析儀器開發26年，主要從事X熒光分析技術和應用技術等研究，并參與“十三五”國家重點儀器科技攻關，獲得“光譜儀光柵二維”發明專利、“X熒光雙彎晶固定元素道分光器”專利和“X熒光光譜分析儀的熱解石墨晶體分光器”專利等，并參與起草制定了多項國家標準行業標準，是我國X熒光光譜儀行業權威專家。
FP（基本參數）算法是X射線熒光光譜分析的有效方法，能夠在少標樣甚至無標樣的情況下對樣品元素成分進行定性定量分析，也可以對鍍層或鍍膜厚度進行分析。 眾所周知，X射線熒光分析最大問題是元素熒光強度會受到共存元素的影響（基體吸收和增強效應），與含量通常不是線性關系?；緟捣ㄔ诠庾V的計算過程中，已經考慮到了基體效應，可以得到計算含量與已知含量之間的線性關系，使用少數已知樣品校正算法去除系統誤差，即可達到精確定量的目的。
偏振二次靶激發技術能最大程度的去除散射背景，提高信噪比，降低檢測器的檢測限。假定由x-射線管陽極產生的x-射線是非偏振的且沿z軸方向入射到靶材(散射體)上，則沿y軸傳播的散射束即為線性偏振光。電場矢量在 v平面內振動，振動方向平行于X軸。放置在y軸上的樣品被偏振光激發，產生非偏振的熒光x-射線。因樣品和樣品支撐物在X軸方向上不產生散射輻射，將探測器放置在x軸上可充分利用偏振效應，降低彈性和非彈性散射x光子造成的本底。
由X射線發生器到達樣品，樣品受激發產生的X射線熒光到探測器的路線稱之為光路。光路經過的距離越短所受到的干擾就越少，天瑞儀器設計出超短光路技術，確保輕元素檢測結果的準確性，特別適合于RoHS環保無鹵指令檢測。
真正做到了微米級定位，微區掃描分析，空間微米級光斑的點對點對中及空間微焦斑位置的確定。一種平動與旋轉切換位置裝置，實現了小空間內的位置旋轉切換，避免了直線運動所需要的大空間以及常用旋轉運動，因為無法貼合導致的光程加長等問題。
XRF測試分析儀器一般都是采用針對標準樣本進行比對測試，在測試時受制于標樣的質量。天瑞儀器獨創無標樣技術，無需標樣即可進行全元素分析，引領行業發展趨勢和潮流。
XRF測試分析儀器一般都是采用針對標準樣本進行比對測試，在測試時受制于標樣的質量。天瑞儀器獨創無標樣技術，無需標樣即可進行全元素分析，引領行業發展趨勢和潮流。
天瑞獨有的信噪比增強技術，能有效的去除雜音信號干擾，最大限度降低元素檢出限，
如圖SUPER XRF 1050，對食品中Pb的測定 ，最低可達到0.59ppm。
天瑞專利的智能分析軟件，能夠對80種元素進行精準分析，無標樣定量分析，微區分析，薄膜分析，高級次譜線分析。
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