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為進一步提高相關工作人員對糧食重金屬快速檢測儀器的使用效率,提升糧食檢測技術能力,5月16日——5月18日,天瑞儀器在江蘇昆山舉辦糧食重金屬快速檢測儀技術培訓會。來自全國20多個省、市及地區的中儲糧集團各分(子)公司倉儲管理處、質監中心相關人員應邀參加,學習儀器操作使用方法,了解儀器基本運作原理。培訓會分為理論學習與實際操作兩部分。
理論培訓會上,天瑞儀器劉召貴博士現場致歡迎辭,對培訓班學員的到來表示衷心的歡迎。天瑞儀器副總經理黎橋從研發基礎與能力、品質管理與服務等方面為學員們系統作了公司介紹。天瑞儀器XRF事業部負責人與糧食行業技術工程師分別作了關于“糧食重金屬快速檢測儀的使用與維護”與“天瑞儀器食品安全檢測整體解決方案”的報告,進一步加深了各位學員對糧食安全檢測的系統了解,提升了大家對糧食重金屬快速檢測儀的宏觀認知。
劉博士致歡迎辭
黎橋副總經理作公司介紹
XRF事業部負責人介紹糧食重金屬快速檢測儀的使用與維護
糧食行業技術工程師食品安全檢測整體解決方案
實際操作中,學員們分組作業,在天瑞技術工程師的指導下,現場操作EDX 3200S PLUS-C糧食重金屬快速檢測儀。操作過程中,大家對檢測過程中的疑問進行現場交流討論,工程師們一一作答。通過實際操作,大家進一步熟悉了儀器的操作流程,加深了對儀器軟件及硬件各方面的認知。
學員們進行實際操作
學員們認真研討
我國是世界上最大的糧食生產、儲藏及消費大國,糧食安全工作關乎我國13億多人的身體健康和生命安全。天瑞儀器一直十分重視糧食安全檢測技術的研究,為糧食系統提供農田環境、現場收購、運輸儲藏以及加工流通環節中的重金屬、農藥殘留等檢測解決方案。本次技術培訓會旨在提升糧食倉儲、質檢人員的理論與實際操作水平,為糧食系統的安全管控提供有力保障。
天瑞分析測試儀器研究院下設三個中心,分別為“分析儀器研發中心”、“理化分析測試中心”和“分析測試技術應用開發中心”。 天瑞分析測試儀器研究院日前人員構成:院士1名,博士11名,高級工程師13名,碩士17名,知名大學本科研發人員50名。
劉召貴先生:清華大學核物理專業博士研究生畢業。先后被評為江蘇省優秀企業家、江蘇省有突出貢獻的中青年專家、昆山市首屆科技功臣、國家科技部“科技創新創業人才”。經國務院批準,享受國務院政府特殊津貼。
姚博士畢業于清華大學工程物理系核電子學專業博士研究生畢業,從事分析儀器開發26年,主要從事X熒光分析技術和應用技術等研究,并參與“十三五”國家重點儀器科技攻關,獲得“光譜儀光柵二維”發明專利、“X熒光雙彎晶固定元素道分光器”專利和“X熒光光譜分析儀的熱解石墨晶體分光器”專利等,并參與起草制定了多項國家標準行業標準,是我國X熒光光譜儀行業權威專家。
FP(基本參數)算法是X射線熒光光譜分析的有效方法,能夠在少標樣甚至無標樣的情況下對樣品元素成分進行定性定量分析,也可以對鍍層或鍍膜厚度進行分析。 眾所周知,X射線熒光分析最大問題是元素熒光強度會受到共存元素的影響(基體吸收和增強效應),與含量通常不是線性關系?;緟捣ㄔ诠庾V的計算過程中,已經考慮到了基體效應,可以得到計算含量與已知含量之間的線性關系,使用少數已知樣品校正算法去除系統誤差,即可達到精確定量的目的。
偏振二次靶激發技術能最大程度的去除散射背景,提高信噪比,降低檢測器的檢測限。假定由x-射線管陽極產生的x-射線是非偏振的且沿z軸方向入射到靶材(散射體)上,則沿y軸傳播的散射束即為線性偏振光。電場矢量在 v平面內振動,振動方向平行于X軸。放置在y軸上的樣品被偏振光激發,產生非偏振的熒光x-射線。因樣品和樣品支撐物在X軸方向上不產生散射輻射,將探測器放置在x軸上可充分利用偏振效應,降低彈性和非彈性散射x光子造成的本底。
由X射線發生器到達樣品,樣品受激發產生的X射線熒光到探測器的路線稱之為光路。光路經過的距離越短所受到的干擾就越少,天瑞儀器設計出超短光路技術,確保輕元素檢測結果的準確性,特別適合于RoHS環保無鹵指令檢測。
真正做到了微米級定位,微區掃描分析,空間微米級光斑的點對點對中及空間微焦斑位置的確定。一種平動與旋轉切換位置裝置,實現了小空間內的位置旋轉切換,避免了直線運動所需要的大空間以及常用旋轉運動,因為無法貼合導致的光程加長等問題。
XRF測試分析儀器一般都是采用針對標準樣本進行比對測試,在測試時受制于標樣的質量。天瑞儀器獨創無標樣技術,無需標樣即可進行全元素分析,引領行業發展趨勢和潮流。
XRF測試分析儀器一般都是采用針對標準樣本進行比對測試,在測試時受制于標樣的質量。天瑞儀器獨創無標樣技術,無需標樣即可進行全元素分析,引領行業發展趨勢和潮流。
天瑞獨有的信噪比增強技術,能有效的去除雜音信號干擾,最大限度降低元素檢出限,
如圖SUPER XRF 1050,對食品中Pb的測定 ,最低可達到0.59ppm。
天瑞專利的智能分析軟件,能夠對80種元素進行精準分析,無標樣定量分析,微區分析,薄膜分析,高級次譜線分析。
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