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鋰離子電池石墨類負極材料采用的是結晶型層狀結構的石墨類碳材料,與正極材料在一定體系下協同作用實現鋰離子的多次充電和放電,在充電過程中,石墨類負極接受鋰離子的嵌入,在放電過程中實現鋰離子的脫出。此類石墨中的雜質元素含量對于鋰離子電池的安全及性能有著重要影響,同時也有研究表明對此類石墨進行適當改性可以有效提高相應電池材料的性能,因此準確、快速地確定其含量對于新能源鋰離子電池的研發具有積極的指導意義。
當前國家標準文件《GB/T 24533-2019鋰離子電池石墨類負極材料》中對此類材料的理化性質作出了要求,對于各類各級的鋰離子電池石墨類負極材料,文件不僅對微量金屬元素含量作出了限定(鐵、鈉、鉻、銅、鎳、鋁、鉬),還限定了磁性物質總量(鐵+鉻+鎳+鋅+鈷),硫元素含量以及限用物質含量(參照《GB/T 電子電氣產品 六種限用物質(鉛、汞、鎘、六價鉻、多溴聯苯和多溴二苯醚)的測定》),當電池負極材料生產廠商對石墨有其他性能要求可相應的自行監控其他元素的技術指標。
1. 設備及試劑
2.樣品的采集、保存和前處理
按照石墨取樣標準,取100g石墨樣品,在105℃的干燥箱干燥2h。稱量10.0g石墨樣品和2.0g硬脂酸(分析純)于粉碎機中振動研磨30s,將石墨樣品粉碎至0.074mm及以下。稱量3.0g石墨樣品和12.0g硼酸粉末,以硼酸粉末為填充劑,在30T壓力保壓30s的條件下壓片成型。然后,在樣片上面貼上標簽、放入樣品袋中,待用。
3.工作曲線的建立和樣品分析
設定適當的測量條件,使用X射線熒光光譜儀掃描一系列含量已知的石墨標準物質或石墨二次標樣,該系列樣品中需關注元素Mg、Al、Si、K、Ca、Ti、Mn、Fe等元素含量與強度的一次線性校正工作曲線。然后,對未知石墨樣品進行測量。
使用EDX 6000C能量色散熒光光譜儀測量不同含量石墨或石墨礦國家標樣物質 ZBM 150~ ZBM 154,建立Mg、Al、Si、K、Ca、Ti、Mn、Fe元素含量與強度的校正工作曲線。由圖可知,石墨或石墨礦中關注元素的含量與強度具有非常好的線性關系。
圖3為石墨1#樣品的X射線熒光譜圖,從譜圖可知,樣品的含有少量Mg、Al、Si、P、K、Ca、Ti、Mn、Fe等元素。使用該樣品進行重復性測試之后,檢測結果中計算了對應元素的氧化物含量,測試結果中呈現出較好的重復性。
天瑞分析測試儀器研究院下設三個中心,分別為“分析儀器研發中心”、“理化分析測試中心”和“分析測試技術應用開發中心”。 天瑞分析測試儀器研究院日前人員構成:院士1名,博士11名,高級工程師13名,碩士17名,知名大學本科研發人員50名。
劉召貴先生:清華大學核物理專業博士研究生畢業。先后被評為江蘇省優秀企業家、江蘇省有突出貢獻的中青年專家、昆山市首屆科技功臣、國家科技部“科技創新創業人才”。經國務院批準,享受國務院政府特殊津貼。
姚博士畢業于清華大學工程物理系核電子學專業博士研究生畢業,從事分析儀器開發26年,主要從事X熒光分析技術和應用技術等研究,并參與“十三五”國家重點儀器科技攻關,獲得“光譜儀光柵二維”發明專利、“X熒光雙彎晶固定元素道分光器”專利和“X熒光光譜分析儀的熱解石墨晶體分光器”專利等,并參與起草制定了多項國家標準行業標準,是我國X熒光光譜儀行業權威專家。
FP(基本參數)算法是X射線熒光光譜分析的有效方法,能夠在少標樣甚至無標樣的情況下對樣品元素成分進行定性定量分析,也可以對鍍層或鍍膜厚度進行分析。 眾所周知,X射線熒光分析最大問題是元素熒光強度會受到共存元素的影響(基體吸收和增強效應),與含量通常不是線性關系?;緟捣ㄔ诠庾V的計算過程中,已經考慮到了基體效應,可以得到計算含量與已知含量之間的線性關系,使用少數已知樣品校正算法去除系統誤差,即可達到精確定量的目的。
偏振二次靶激發技術能最大程度的去除散射背景,提高信噪比,降低檢測器的檢測限。假定由x-射線管陽極產生的x-射線是非偏振的且沿z軸方向入射到靶材(散射體)上,則沿y軸傳播的散射束即為線性偏振光。電場矢量在 v平面內振動,振動方向平行于X軸。放置在y軸上的樣品被偏振光激發,產生非偏振的熒光x-射線。因樣品和樣品支撐物在X軸方向上不產生散射輻射,將探測器放置在x軸上可充分利用偏振效應,降低彈性和非彈性散射x光子造成的本底。
由X射線發生器到達樣品,樣品受激發產生的X射線熒光到探測器的路線稱之為光路。光路經過的距離越短所受到的干擾就越少,天瑞儀器設計出超短光路技術,確保輕元素檢測結果的準確性,特別適合于RoHS環保無鹵指令檢測。
真正做到了微米級定位,微區掃描分析,空間微米級光斑的點對點對中及空間微焦斑位置的確定。一種平動與旋轉切換位置裝置,實現了小空間內的位置旋轉切換,避免了直線運動所需要的大空間以及常用旋轉運動,因為無法貼合導致的光程加長等問題。
XRF測試分析儀器一般都是采用針對標準樣本進行比對測試,在測試時受制于標樣的質量。天瑞儀器獨創無標樣技術,無需標樣即可進行全元素分析,引領行業發展趨勢和潮流。
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天瑞獨有的信噪比增強技術,能有效的去除雜音信號干擾,最大限度降低元素檢出限,
如圖SUPER XRF 1050,對食品中Pb的測定 ,最低可達到0.59ppm。
天瑞專利的智能分析軟件,能夠對80種元素進行精準分析,無標樣定量分析,微區分析,薄膜分析,高級次譜線分析。
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