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石油焦是煉油過程中的固體殘留物,是生產石墨電極、負極材料、碳素等各種碳材料的重要原料,石油焦的雜質元素主要以原油中固有S、Fe、Ni、V、Ga等元素為主,原油劣質化日益嚴重,導致石油焦中的雜質元素含量也隨之增加,石油焦中微量元素含量的控制,是生產優質石油焦、提高石油焦市場競爭力的重要環節。
石油焦中微量元素的測試手段包括原子吸收光譜(AAS),電感耦合等離子體發射光譜(ICP-OES)等,這些檢測方法大多需要經過嚴格的前處理并且操作復雜,十分依賴實驗人員的主觀操作經驗,在最新版的石油焦產品標準《NB/SH/T 0527-2019對石油焦(生焦)》中XRF方法取代了原ICP-OES法成為石油焦微量元素測定的仲裁方法。
能量色散型XRF相較于波長色散型XRF儀器更加輕便,適用于多種場景并且儀器的維護更為簡單,ED-XRF的使用,可以增加石油焦微量元素的日常監測,滿足生產現場原料的快速評估,對于裝置的工藝參數調整優化具有非常重要的指導意義。
1.設備及試劑
2.樣品的采集、保存和前處理
按照石油焦取樣標準,取100g石油焦樣品,在105℃的干燥箱干燥2h。用粉碎機取石油焦樣品粉碎至0.074mm及以下。稱量3.0g石油焦樣品和10.0g硼酸粉末,以硼酸粉末為填充劑,在15~20T壓力下壓片成型。然后,在樣片上面貼上標簽、放入樣品袋中,待用。
3. 工作曲線的建立和樣品分析
設定適當的測量條件,使用X射線熒光光譜儀掃描一系列含量已知的石油焦(生焦)二次標樣(通過行業標準定值的石油焦),建立石油焦中關注元素S、V、Fe和Ni元素含量與強度的一次線性校正工作曲線。然后,對未知石油焦(生焦)樣品進行測量。
上圖為使用EDX 6000C能量色散熒光光譜儀測量不同含量石油焦二次標樣,建立S、V、Fe、Ni元素含量與強度的一次或二次校正工作曲線。由圖可知,S、V、Fe、Ni組分含量與強度具有非常好的線性關系。
圖3為測試中使用的一個未知樣(命名石油焦1#)的測試譜圖,在譜圖中可以明顯觀察到S、V、Fe、Ni元素的特征峰,并且在此樣品中還含有微量的Al、Si、Ca、Zn元素。使用該樣品進行重復性測試后,檢測結果中S、V、Fe、Ni元素的重復性分別達到了0.28%、3.33%、1.10%和0.71%,表明該儀器對石油焦樣品具有很好的檢測效果。
天瑞分析測試儀器研究院下設三個中心,分別為“分析儀器研發中心”、“理化分析測試中心”和“分析測試技術應用開發中心”。 天瑞分析測試儀器研究院日前人員構成:院士1名,博士11名,高級工程師13名,碩士17名,知名大學本科研發人員50名。
劉召貴先生:清華大學核物理專業博士研究生畢業。先后被評為江蘇省優秀企業家、江蘇省有突出貢獻的中青年專家、昆山市首屆科技功臣、國家科技部“科技創新創業人才”。經國務院批準,享受國務院政府特殊津貼。
姚博士畢業于清華大學工程物理系核電子學專業博士研究生畢業,從事分析儀器開發26年,主要從事X熒光分析技術和應用技術等研究,并參與“十三五”國家重點儀器科技攻關,獲得“光譜儀光柵二維”發明專利、“X熒光雙彎晶固定元素道分光器”專利和“X熒光光譜分析儀的熱解石墨晶體分光器”專利等,并參與起草制定了多項國家標準行業標準,是我國X熒光光譜儀行業權威專家。
FP(基本參數)算法是X射線熒光光譜分析的有效方法,能夠在少標樣甚至無標樣的情況下對樣品元素成分進行定性定量分析,也可以對鍍層或鍍膜厚度進行分析。 眾所周知,X射線熒光分析最大問題是元素熒光強度會受到共存元素的影響(基體吸收和增強效應),與含量通常不是線性關系?;緟捣ㄔ诠庾V的計算過程中,已經考慮到了基體效應,可以得到計算含量與已知含量之間的線性關系,使用少數已知樣品校正算法去除系統誤差,即可達到精確定量的目的。
偏振二次靶激發技術能最大程度的去除散射背景,提高信噪比,降低檢測器的檢測限。假定由x-射線管陽極產生的x-射線是非偏振的且沿z軸方向入射到靶材(散射體)上,則沿y軸傳播的散射束即為線性偏振光。電場矢量在 v平面內振動,振動方向平行于X軸。放置在y軸上的樣品被偏振光激發,產生非偏振的熒光x-射線。因樣品和樣品支撐物在X軸方向上不產生散射輻射,將探測器放置在x軸上可充分利用偏振效應,降低彈性和非彈性散射x光子造成的本底。
由X射線發生器到達樣品,樣品受激發產生的X射線熒光到探測器的路線稱之為光路。光路經過的距離越短所受到的干擾就越少,天瑞儀器設計出超短光路技術,確保輕元素檢測結果的準確性,特別適合于RoHS環保無鹵指令檢測。
真正做到了微米級定位,微區掃描分析,空間微米級光斑的點對點對中及空間微焦斑位置的確定。一種平動與旋轉切換位置裝置,實現了小空間內的位置旋轉切換,避免了直線運動所需要的大空間以及常用旋轉運動,因為無法貼合導致的光程加長等問題。
XRF測試分析儀器一般都是采用針對標準樣本進行比對測試,在測試時受制于標樣的質量。天瑞儀器獨創無標樣技術,無需標樣即可進行全元素分析,引領行業發展趨勢和潮流。
XRF測試分析儀器一般都是采用針對標準樣本進行比對測試,在測試時受制于標樣的質量。天瑞儀器獨創無標樣技術,無需標樣即可進行全元素分析,引領行業發展趨勢和潮流。
天瑞獨有的信噪比增強技術,能有效的去除雜音信號干擾,最大限度降低元素檢出限,
如圖SUPER XRF 1050,對食品中Pb的測定 ,最低可達到0.59ppm。
天瑞專利的智能分析軟件,能夠對80種元素進行精準分析,無標樣定量分析,微區分析,薄膜分析,高級次譜線分析。
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