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X射線測厚儀結構特點及工作原理
一、X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時,X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性,從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態計量儀器。它以PLC和工業計算機為核心,采集計算數據并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統,已達到要求的軋制厚度.適用范圍:生產鋁板、銅板、鋼板等冶金材料為產品的企業,可以與軋機配套,應用于熱軋、鑄軋、冷軋、箔軋。其中,x射線測厚儀還可以用于冷軋、箔軋和部分熱軋的軋機生產過程中對板材厚度進行自動控制。
二、X射線測厚儀系統構成:
用戶操作終端觸摸屏用戶操作終端包括一個 的計算機和高分辨率的彩色顯示器??娠@示整個系統的檢測、設定、偏差值;用戶通過軟件顯示面可直接控制和操作測厚儀。主操作顯示正常操作所需的各種數據。維護面顯示系統正常工作時各種參數高壓反饋、管電流、燈絲電流、射線源溫度等。一些與用戶質量有關的重要數據如厚差曲線、厚度與長度關系曲線均可打印。技術員能很容易地通過操作終端的報表打印功能,打印出來以顯示可用信息。
冷卻系統本系統配備有 冷卻裝置,該裝置的關鍵部件,壓縮機組均采用進口原裝組件,具有可靠性高、噪音小、控溫精度高,經久耐用等特點。通過C型架上進出油口進行冷卻。延長了關鍵部件的使用壽命。X射線發射源及接收檢測頭
X射線測厚儀采用X射線管和高壓電源。X射線管裝在一個抽真空后注滿油的全密封的油箱中絕緣和良好冷卻,高壓等級根據所造型號不同有所區別,加上傳感器具有的溫度自動保護與報警功能,提高了X射線管的穩定性和使用壽命。模塊化設計、免維護設計方案及規范的制造了設備系統高可靠性。檢測頭采用電離室和電子前置放大器組成高性能電離室檢測頭,離子室設計具有大空間,高抗干擾性、高靈敏度等特點。系統備有風冷、油冷恒溫冷卻單元,延長系統的使用壽命。
主控制柜
主控制柜是一個自由立式控制臺,是個系統的心臟。根據產品型號、控制系統配置不同,P型采用S7-400PLC作為控制計算中心;G型采用工控機為控制計算中心??刂乒褙撠煵杉吞幚韽那爸梅糯笃鱾鱽淼男盘?,負責測厚儀數據處理和與軋機AGC系統的接口信號輸出,為軋機AGC系統提供測厚數據及控制信號??刂乒襁€提供整個系統穩定的電源和現場顯示器的顯示數據。測厚儀各部件功能
1)全量程標定功能:根據程序預先設定的計算公式,通過組合不同的標樣厚度并將其置于射線下測量,以得到一組基準數據,并存于PLC中。
2)測量功能:用于實際測量,系統工作時軋制帶材通過射線照射,測量頭接收后,轉化為電壓信號,此電壓值與全量程標定模塊中所儲存的基準數據相比較,通過程序中預先設定的計算公式計算后得到相應的厚度。
3)系統效驗功能:由于工作現場環境復雜,系統工作一段時間后由于各種因素的干擾,系統會產生基準漂移。這時通過系統效驗模塊可以修復這種漂移,以系統測量的性
4)自動合金補償功能:由于鋁合金板材牌號眾多,合金含量各不相同,而X射線對不同合金的吸收率是有差別的,為了彌補這種差別本系統增加了合金補償功能(此功能類似于全量程標定功能)
5)AGC偏差輸出功能:通過計算目標厚度與實際厚度的偏差值(單位um)然后把這個偏差值轉換為電壓信號,把此電壓信號傳送給軋機AGC系統,通過AGC系統來調整軋制的板材厚度。
6)帶材長度計算功能:通過采集來自編碼器的脈沖信號,計算出帶材的長度。然后把長度值與厚差放于同一坐標中,形成長度與厚差曲線,使用戶很直觀的觀察到這卷帶材的質量信息,必要時還可以打印出來。7)標樣控制功能:主要是為了控制系統所使用標準樣片在全量程標定、系統效驗和系統測試中能夠的置于射線下進行測量。
8)C型架控制功能:控制C型架在導軌上的前進和后退。
天瑞分析測試儀器研究院下設三個中心,分別為“分析儀器研發中心”、“理化分析測試中心”和“分析測試技術應用開發中心”。 天瑞分析測試儀器研究院日前人員構成:院士1名,博士11名,高級工程師13名,碩士17名,知名大學本科研發人員50名。
劉召貴先生:清華大學核物理專業博士研究生畢業。先后被評為江蘇省優秀企業家、江蘇省有突出貢獻的中青年專家、昆山市首屆科技功臣、國家科技部“科技創新創業人才”。經國務院批準,享受國務院政府特殊津貼。
姚博士畢業于清華大學工程物理系核電子學專業博士研究生畢業,從事分析儀器開發26年,主要從事X熒光分析技術和應用技術等研究,并參與“十三五”國家重點儀器科技攻關,獲得“光譜儀光柵二維”發明專利、“X熒光雙彎晶固定元素道分光器”專利和“X熒光光譜分析儀的熱解石墨晶體分光器”專利等,并參與起草制定了多項國家標準行業標準,是我國X熒光光譜儀行業權威專家。
FP(基本參數)算法是X射線熒光光譜分析的有效方法,能夠在少標樣甚至無標樣的情況下對樣品元素成分進行定性定量分析,也可以對鍍層或鍍膜厚度進行分析。 眾所周知,X射線熒光分析最大問題是元素熒光強度會受到共存元素的影響(基體吸收和增強效應),與含量通常不是線性關系?;緟捣ㄔ诠庾V的計算過程中,已經考慮到了基體效應,可以得到計算含量與已知含量之間的線性關系,使用少數已知樣品校正算法去除系統誤差,即可達到精確定量的目的。
偏振二次靶激發技術能最大程度的去除散射背景,提高信噪比,降低檢測器的檢測限。假定由x-射線管陽極產生的x-射線是非偏振的且沿z軸方向入射到靶材(散射體)上,則沿y軸傳播的散射束即為線性偏振光。電場矢量在 v平面內振動,振動方向平行于X軸。放置在y軸上的樣品被偏振光激發,產生非偏振的熒光x-射線。因樣品和樣品支撐物在X軸方向上不產生散射輻射,將探測器放置在x軸上可充分利用偏振效應,降低彈性和非彈性散射x光子造成的本底。
由X射線發生器到達樣品,樣品受激發產生的X射線熒光到探測器的路線稱之為光路。光路經過的距離越短所受到的干擾就越少,天瑞儀器設計出超短光路技術,確保輕元素檢測結果的準確性,特別適合于RoHS環保無鹵指令檢測。
真正做到了微米級定位,微區掃描分析,空間微米級光斑的點對點對中及空間微焦斑位置的確定。一種平動與旋轉切換位置裝置,實現了小空間內的位置旋轉切換,避免了直線運動所需要的大空間以及常用旋轉運動,因為無法貼合導致的光程加長等問題。
XRF測試分析儀器一般都是采用針對標準樣本進行比對測試,在測試時受制于標樣的質量。天瑞儀器獨創無標樣技術,無需標樣即可進行全元素分析,引領行業發展趨勢和潮流。
XRF測試分析儀器一般都是采用針對標準樣本進行比對測試,在測試時受制于標樣的質量。天瑞儀器獨創無標樣技術,無需標樣即可進行全元素分析,引領行業發展趨勢和潮流。
天瑞獨有的信噪比增強技術,能有效的去除雜音信號干擾,最大限度降低元素檢出限,
如圖SUPER XRF 1050,對食品中Pb的測定 ,最低可達到0.59ppm。
天瑞專利的智能分析軟件,能夠對80種元素進行精準分析,無標樣定量分析,微區分析,薄膜分析,高級次譜線分析。
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