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9月14日—18日,2017深圳國際珠寶展將在深圳會展中心舉辦,本次展會為期5天。期間,天瑞儀器將攜帶多款人氣產品出席本次展會,展位號2C036、2C038。本次展會由中國珠寶玉石首飾行業協會、國土資源部珠寶玉石首飾管理中心等聯合主辦,是中國內地規模最大的珠寶交易平臺。
作為國內化學分析行業的領航者,成立25年來,天瑞儀器X熒光光譜儀擁有深厚的技術基礎與實力。尤其在X熒光無損檢測貴金屬含量的領域,天瑞儀器擁有大量優質產品與豐富的實戰經驗。多年來,天瑞儀器為珠寶首飾行業提供了一個又一個專業全面的解決方案。
本次深圳珠寶展,天瑞儀器將攜帶EDX 3000能量色散X熒光光譜儀、EDX3000PLUS X熒光貴金屬檢測儀、Smart100 PLUS 能量色散X熒光光譜儀、Cube 100 便攜式能量色散X熒光光譜儀、EXPLORER 1000 便攜式X熒光光譜儀等人氣產品亮相。值得一提的是,所有參展儀器均提供現場檢測服務,讓參展者現場感受X熒光光譜儀檢測的高效、便捷與迅速。歡迎各位新老朋友前來咨詢、檢測體驗。
SMART 100 智能型全自動貴金屬檢測儀
本產品是在天瑞儀器多年貴金屬檢測技術和經驗基礎之上研發的一款新型高端測試儀,采用新一代探測器及多道技術,實現超高計數率,1秒出結果,準確分析貴金屬含量。同時,具備二維移動平臺及高清工業攝像頭,實現樣品精確定位。(可對99.99%黃金進行有效分析)
EDX3000PLUS X熒光貴金屬檢測儀
該產品在測量金、銀、鉑、鈀等貴金屬含量上功能獨到。采用25mm2大面積鈹窗探測器,可準確無誤地分析出黃金,鉑金和K金飾品中金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳的含量,測試結果完全符合國標GB/T 18043-2000要求。EDX 3000 PLUS最閃耀的亮點在于超高精確度、超高分辨率、更清晰的攝像頭、一鍵式智能操作。
Cube 100 便攜式能量色散X熒光光譜儀
Cube 100在測量金、銀、鉑等貴金屬以及首飾內壁含量上功能獨到。采用高分辨率SDD或者Sipin探測器,可準確無誤地分析出黃金,鉑金和K金飾品中金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳等元素的含量,同時還可以測試鎘和鉛等有害物質。測試結果完全符合國標GB/T 18043-2013要求。
該產品設計精巧、輕便,凈重不超過5kg,設備自帶把手,方便提攜;萬向測試支架,方便測試小部件樣品和混合金屬飾品等;內置攝像頭,可為待測樣品提供準確圖片,并保存到測試報告中; 儀器配置Ф1mm、Ф2mm和Ф4mm三組準直器組合,結合樣品腔,可應對測試不同大小樣品的需要;FP法的完整使用,只需一鍵操作即可智能化自動匹配曲線,操作一步到位。
天瑞分析測試儀器研究院下設三個中心,分別為“分析儀器研發中心”、“理化分析測試中心”和“分析測試技術應用開發中心”。 天瑞分析測試儀器研究院日前人員構成:院士1名,博士11名,高級工程師13名,碩士17名,知名大學本科研發人員50名。
劉召貴先生:清華大學核物理專業博士研究生畢業。先后被評為江蘇省優秀企業家、江蘇省有突出貢獻的中青年專家、昆山市首屆科技功臣、國家科技部“科技創新創業人才”。經國務院批準,享受國務院政府特殊津貼。
姚博士畢業于清華大學工程物理系核電子學專業博士研究生畢業,從事分析儀器開發26年,主要從事X熒光分析技術和應用技術等研究,并參與“十三五”國家重點儀器科技攻關,獲得“光譜儀光柵二維”發明專利、“X熒光雙彎晶固定元素道分光器”專利和“X熒光光譜分析儀的熱解石墨晶體分光器”專利等,并參與起草制定了多項國家標準行業標準,是我國X熒光光譜儀行業權威專家。
FP(基本參數)算法是X射線熒光光譜分析的有效方法,能夠在少標樣甚至無標樣的情況下對樣品元素成分進行定性定量分析,也可以對鍍層或鍍膜厚度進行分析。 眾所周知,X射線熒光分析最大問題是元素熒光強度會受到共存元素的影響(基體吸收和增強效應),與含量通常不是線性關系?;緟捣ㄔ诠庾V的計算過程中,已經考慮到了基體效應,可以得到計算含量與已知含量之間的線性關系,使用少數已知樣品校正算法去除系統誤差,即可達到精確定量的目的。
偏振二次靶激發技術能最大程度的去除散射背景,提高信噪比,降低檢測器的檢測限。假定由x-射線管陽極產生的x-射線是非偏振的且沿z軸方向入射到靶材(散射體)上,則沿y軸傳播的散射束即為線性偏振光。電場矢量在 v平面內振動,振動方向平行于X軸。放置在y軸上的樣品被偏振光激發,產生非偏振的熒光x-射線。因樣品和樣品支撐物在X軸方向上不產生散射輻射,將探測器放置在x軸上可充分利用偏振效應,降低彈性和非彈性散射x光子造成的本底。
由X射線發生器到達樣品,樣品受激發產生的X射線熒光到探測器的路線稱之為光路。光路經過的距離越短所受到的干擾就越少,天瑞儀器設計出超短光路技術,確保輕元素檢測結果的準確性,特別適合于RoHS環保無鹵指令檢測。
真正做到了微米級定位,微區掃描分析,空間微米級光斑的點對點對中及空間微焦斑位置的確定。一種平動與旋轉切換位置裝置,實現了小空間內的位置旋轉切換,避免了直線運動所需要的大空間以及常用旋轉運動,因為無法貼合導致的光程加長等問題。
XRF測試分析儀器一般都是采用針對標準樣本進行比對測試,在測試時受制于標樣的質量。天瑞儀器獨創無標樣技術,無需標樣即可進行全元素分析,引領行業發展趨勢和潮流。
XRF測試分析儀器一般都是采用針對標準樣本進行比對測試,在測試時受制于標樣的質量。天瑞儀器獨創無標樣技術,無需標樣即可進行全元素分析,引領行業發展趨勢和潮流。
天瑞獨有的信噪比增強技術,能有效的去除雜音信號干擾,最大限度降低元素檢出限,
如圖SUPER XRF 1050,對食品中Pb的測定 ,最低可達到0.59ppm。
天瑞專利的智能分析軟件,能夠對80種元素進行精準分析,無標樣定量分析,微區分析,薄膜分析,高級次譜線分析。
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