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液體樣品在EDXRF分析中面臨的主要挑戰之一是樣品的流動性。液體容易泄漏或揮發,這不僅可能導致樣品損失,還可能污染儀器內部,影響儀器的性能和壽命。因此,在分析液體樣品時,通常需要使用專門的液體樣品杯。這些樣品杯通常由低原子序數的材料制成,如聚丙烯或聚四氟乙烯,以減少對X射線的吸收和干擾。樣品杯的設計需要確保其密封性良好,能夠有效防止液體泄漏或揮發。
此外,為了防止液體樣品在分析過程中揮發或受到外界污染,通常需要在樣品杯上加蓋或使用密封膜。密封膜的材料選擇非常重要,必須對X射線透明,以避免干擾分析結果。常用的材料包括聚酯薄膜,這種材料不僅具有良好的密封性,還能保證X射線的穿透性。
液體樣品的均勻性雖然通常較好,但在某些情況下,液體中可能存在懸浮顆?;蚍謱蝇F象,這會影響分析結果的準確性。因此,在分析前可能需要對液體樣品進行預處理,例如過濾或稀釋,以確保樣品的均勻性。預處理過程中使用的裝置,如過濾器或移液器,雖然不是EDXRF儀器的直接配件,但在分析過程中起到關鍵作用。
在EDXRF分析中,液體樣品的厚度也需要特別注意。液體樣品的厚度會影響X射線的穿透深度,進而影響信號的強度和檢測限。過厚的樣品可能導致X射線信號衰減,而過薄的樣品則可能無法提供足夠的信號強度。因此,選擇合適的樣品杯尺寸和控制液體樣品的厚度是確保分析結果準確性的重要因素。
液體樣品杯通常需要放置在樣品支撐架上,以確保其在儀器中的位置固定。支撐架的設計應便于樣品的放置和取出,同時避免對X射線的遮擋。此外,分析液體樣品后,及時清潔儀器和樣品杯也是非常重要的。液體樣品的殘留物可能會污染儀器,影響后續分析的準確性。因此,操作人員應在每次分析后仔細清潔儀器和相關配件。
EDXRF分析液體樣品時通常需要一些特殊裝置,如液體樣品杯、密封膜和樣品支撐架等。這些裝置不僅能夠確保液體樣品在分析過程中的穩定性,還能有效防止樣品泄漏或揮發,保護儀器的正常運行。同時,操作人員應注意樣品的預處理和儀器的清潔維護,以提高分析結果的可靠性和重復性。通過合理使用這些裝置和注意事項,EDXRF技術可以廣泛應用于液體樣品的元素分析,為環境監測、食品安全、化工生產等領域提供有力的技術支持。
天瑞分析測試儀器研究院下設三個中心,分別為“分析儀器研發中心”、“理化分析測試中心”和“分析測試技術應用開發中心”。 天瑞分析測試儀器研究院日前人員構成:院士1名,博士11名,高級工程師13名,碩士17名,知名大學本科研發人員50名。
劉召貴先生:清華大學核物理專業博士研究生畢業。先后被評為江蘇省優秀企業家、江蘇省有突出貢獻的中青年專家、昆山市首屆科技功臣、國家科技部“科技創新創業人才”。經國務院批準,享受國務院政府特殊津貼。
姚博士畢業于清華大學工程物理系核電子學專業博士研究生畢業,從事分析儀器開發26年,主要從事X熒光分析技術和應用技術等研究,并參與“十三五”國家重點儀器科技攻關,獲得“光譜儀光柵二維”發明專利、“X熒光雙彎晶固定元素道分光器”專利和“X熒光光譜分析儀的熱解石墨晶體分光器”專利等,并參與起草制定了多項國家標準行業標準,是我國X熒光光譜儀行業權威專家。
FP(基本參數)算法是X射線熒光光譜分析的有效方法,能夠在少標樣甚至無標樣的情況下對樣品元素成分進行定性定量分析,也可以對鍍層或鍍膜厚度進行分析。 眾所周知,X射線熒光分析最大問題是元素熒光強度會受到共存元素的影響(基體吸收和增強效應),與含量通常不是線性關系?;緟捣ㄔ诠庾V的計算過程中,已經考慮到了基體效應,可以得到計算含量與已知含量之間的線性關系,使用少數已知樣品校正算法去除系統誤差,即可達到精確定量的目的。
偏振二次靶激發技術能最大程度的去除散射背景,提高信噪比,降低檢測器的檢測限。假定由x-射線管陽極產生的x-射線是非偏振的且沿z軸方向入射到靶材(散射體)上,則沿y軸傳播的散射束即為線性偏振光。電場矢量在 v平面內振動,振動方向平行于X軸。放置在y軸上的樣品被偏振光激發,產生非偏振的熒光x-射線。因樣品和樣品支撐物在X軸方向上不產生散射輻射,將探測器放置在x軸上可充分利用偏振效應,降低彈性和非彈性散射x光子造成的本底。
由X射線發生器到達樣品,樣品受激發產生的X射線熒光到探測器的路線稱之為光路。光路經過的距離越短所受到的干擾就越少,天瑞儀器設計出超短光路技術,確保輕元素檢測結果的準確性,特別適合于RoHS環保無鹵指令檢測。
真正做到了微米級定位,微區掃描分析,空間微米級光斑的點對點對中及空間微焦斑位置的確定。一種平動與旋轉切換位置裝置,實現了小空間內的位置旋轉切換,避免了直線運動所需要的大空間以及常用旋轉運動,因為無法貼合導致的光程加長等問題。
XRF測試分析儀器一般都是采用針對標準樣本進行比對測試,在測試時受制于標樣的質量。天瑞儀器獨創無標樣技術,無需標樣即可進行全元素分析,引領行業發展趨勢和潮流。
XRF測試分析儀器一般都是采用針對標準樣本進行比對測試,在測試時受制于標樣的質量。天瑞儀器獨創無標樣技術,無需標樣即可進行全元素分析,引領行業發展趨勢和潮流。
天瑞獨有的信噪比增強技術,能有效的去除雜音信號干擾,最大限度降低元素檢出限,
如圖SUPER XRF 1050,對食品中Pb的測定 ,最低可達到0.59ppm。
天瑞專利的智能分析軟件,能夠對80種元素進行精準分析,無標樣定量分析,微區分析,薄膜分析,高級次譜線分析。
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