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江蘇天瑞儀器股份有限公司
深圳市天瑞儀器有限公司

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江蘇天瑞儀器股份有限公司-天瑞儀器WDX4000

波長色散X熒光光譜儀WDXRF

天瑞儀器WDX4000

天瑞儀器順序式波長色散x熒光光譜儀

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 天瑞儀器WDX4000  產品詳細

產品說明、技術參數及配置

WDX-4000 是江蘇天瑞儀器股份有限公司在多年同時式波長色散X射線熒光光譜儀的研發和產品化基礎上,在國家重大科學儀器設備開發專項(項目編號:2011YQ170065)資金支持下,融合獨有的科技創新和發明,推出的商業化順序式波長色散X射線熒光光譜儀。WDX-4000通過了《JJG 810-1993波長色散X射線熒光光譜儀檢定規程》的測試,能檢測元素周期表上從Be-4到U-92的元素,可應用于地質、水泥、鋼鐵和環保等領域。WDX-4000采用大量通用化的設計,可以提供給客戶最經濟便捷的維護。

性能特點:

創新的測角儀設計
專利保護的創新型鋼帶傳動系統,可以提供穩定、無回程間隙的旋轉運動,以保證最高精度的角度定位要求;
θ/2θ兩軸獨立運動,并配合伺服電機和圓光柵構成閉環系統;
永磁式交流伺服電機提供業界頂級的高速平滑運動;
圓光柵測角重復性可達±0.0002度,精度達±0.0006度,足以保證優異的角度測量性能;

數字多道分析儀
12位,80M/s的模數轉換采樣率,是業界最高分辨率的信號采樣系統,保證了信號采集的完整性
基于高速FPGA框架以及可靠的數字信號處理算法,4096道分析系統足以從噪聲中篩選正確的X射線信號
大動態范圍測量,有效減少了探測器增益調節次數

X射線光管和高壓
標準的4kW大功率電源系統,支持高靈敏度的痕量檢測以及更快的檢驗速度
50um/75um的鈹窗厚度保證超高的X射線穿透率,尤其適合低能X射線穿過
高壓電源電壓和電流最高可達60kV和160mA,用戶可根據實際需要靈活設置電壓和電流參數
雙通道水冷系統,電導率保持在1uS以下,以最大限度延長光管工作壽命其他
最多可支持10塊晶體,可根據客戶需求提供專門優化的人工多層膜晶體,以提升輕元素的檢測能力
最薄可達0.3um的正比流氣計數器窗膜,極大提升了輕元素的光通量

其他:
光譜室溫度控制穩定性在±0.05C以內
晶體、準直器和濾光片都采用自動切換控制
軟件
完整而豐富的軟件功能
32位軟件系統,優異的可操作性和人機交互界面
成熟的經驗系數法配合標準樣品提供準確可靠的檢測數據
基本參數法可提供多樣化的分析手段,可進行無標樣的半定量和定量分析
集成的SQLite數據庫用于保存實驗數據,方便數據查詢和管理

技術指標

進樣系統
樣品形式:固體
樣品尺寸:最大51.5 mm  × 40 mm
樣品重量:最重500g
進樣系統:雙進樣系統,標備除塵過濾器和預抽真空系統;一個樣品測量的同時給另一個樣品預抽真空,互不干擾
自動進樣機:自動機械手進樣系統,最多可裝168個樣品
自旋裝置:3種自旋速度(低、中、高)
X射線光管
鈹窗:50um/75um超薄鈹窗,用以保證X射線的高通過率
陽極靶材料:標配銠靶,可選銅靶、鉬靶、鎢靶,鉻靶,鉑靶等
工作模式:樣品進樣時保持工作狀態不變
水冷系統:雙路水循環系統,電導率保持在1uS以下
高壓電源
輸出方式:1kV和1mA的標準調節單位,通過12位DA進行精細調節
長時間穩定性:0.01%/8 hours
溫度穩定性:50 ppm/C
(20 ppm/C可選).
數據
功率:4kW
KV/mA范圍:電壓20-60KV,電流10-140mA;最大電壓75kV,最大電流160mA可選.
測角儀
工作模式:創新型鋼帶傳動系統,無摩擦,無回程間隙,帶有圓光柵反饋,θ/2θ兩軸獨立運動
最大轉角速度:6000  2θ/min
測角精度:0.006° θ / 2θ
測角重復性:0.0002° θ / 2θ
步進角度:最小 0.0001°,最大1°
角度掃描范圍:流氣比例計數器:12° to 150°@2θ
閃爍計數器: 0° to 120°@2θ
光路
準直器面罩:單面罩,(其他尺寸27, 32 or 50mm可選)
主準直器:最多可裝3個: 100, 150, 300, 550, 700 or 4000 um, 可選
主濾光片:最多4片: Pb,Al,Cu等元素可選
晶體:最多10個: LiF420,LiF220,LiF200,Ge111,PE002,InSb, TIAP,以及用于輕元素測量的各種人工多層膜晶體.
探測器:流氣比例計數器 (FPC), 可配0.3um厚的窗膜
閃爍計數器 (SC)
光室真空度:<15Pa
信號處理
數字多道分析儀:12位,80M/s采樣速度,4096道分析能力,采用FPGA框架以及可靠的DSP算法用于信號和噪聲分離
最大計數率:流氣比例計數器:2Mcps
閃爍計數器: 1.5Mcps
脈沖漂移和增益校正:自動
時間校正:自動


為什么選擇天瑞儀器?

天瑞儀器WDX4000

    一、行業引領者:

    2011年深交所上市公司(代碼:300165),
    分析儀器行業內首屈一指的引路者

    天瑞儀器作為國內化學分析行業的領航者,專業生產光譜儀、色譜儀、質譜儀為主的高端分析儀器。主要應用于環境保護與安全(電子、電氣、玩具等各類消費品行業、食品安全、空氣、土壤、水質污染檢測等)、工業生產質量控制(冶金、建材、石油、化工、貴金屬、醫療器械等)、礦產與資源(地質、采礦)、商品檢驗、質量檢驗甚至人體微量元素的檢驗等眾多領域。 核心專利技術同行業中第一;銷售量同行業中第一 ;產品種類同行業中第一 ;

天瑞儀器WDX4000

    二、標準的制定者:

    天瑞儀器參與起草和制定了18項國家標準、
    行業標準,自信于行業的話語權。

    GBT 28020-2011 飾品 有害元素的測定 X射線熒光光譜法
    GBT 31364-2015能量色散X射線熒光光譜儀主要性能測試方法
    GBT 33352-2016電子電氣產品中限用物質篩選應用通則 x射線熒光光譜法
    GB/T 25934.1-2010高純金化學分析方法 乙酸乙酯萃取分離ICP-AES光譜法 測定雜質元素的含量
    GB/T 27730-2011玩具產品中富馬酸二甲酯含量的測定 氣相色譜-質譜聯用GC-MS法
    GB/T 28020-2011飾品 有害元素的測定 X射線熒光光譜法
    GBT 22788-2008玩具表面涂層中總鉛含量的測定
    GB/T 30419-2013玩具材料中可遷移元素銻砷鋇鎘鉻鉛汞硒的測定電感耦合等離子體原子發射光譜法
    GB/T 31364-2015能量色散X射線熒光光譜儀主要性能測試方法
    JBT 12962.1-2016能量色散X射線熒光光譜儀第1部分:通用技術
    JBT 12962.2-2016能量色散X射線熒光光譜儀第2部分:元素分析儀
    JBT 12962.3-2016能量色散X射線熒光光譜儀第3部分:鍍層厚度分析儀
    LS_T 6115-2016.4672 LST6115-2016《糧油檢驗 稻谷中鎘含量快速測定X射線熒光光譜法》標準
    (未完待續……)

天瑞儀器WDX4000

    三、技術開創者:

    252項實用專利,填補國內空白,打破進口壟斷中前行

    截至2017年末,天瑞儀器公司及其子公司已獲得國家知識產權局授權專利252項,
    《計算機軟件著作權登記證書》91項;
    其中發明專利115項,
    實用新型專利80項,
    外觀專利57項。

天瑞儀器WDX4000

    四、服務踐行者:

    天瑞儀器不忘初心,與客戶同命運,共成長。

    天瑞儀器的客戶有:中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家博物館、
    中國國家地質實驗測試中心、中國地質科學院、中國科學院長春光機所、中國泰爾實驗室、
    等政府部門和知名檢測機構,
    以及中石油、中石化、華為、海爾、創維、方太、美菱、光寶、TCL、LG、美的、三星、華測(CTI)、中航電測等。

研發實力:

天瑞儀器WDX4000

    天瑞分析測試儀器研究院

    天瑞分析測試儀器研究院下設三個中心,分別為“分析儀器研發中心”、“理化分析測試中心”和“分析測試技術應用開發中心”。 天瑞分析測試儀器研究院日前人員構成:院士1名,博士11名,高級工程師13名,碩士17名,知名大學本科研發人員50名。

天瑞儀器WDX4000

    劉召貴博士,國務院特殊津貼專家

    劉召貴先生:清華大學核物理專業博士研究生畢業。先后被評為江蘇省優秀企業家、江蘇省有突出貢獻的中青年專家、昆山市首屆科技功臣、國家科技部“科技創新創業人才”。經國務院批準,享受國務院政府特殊津貼。

天瑞儀器WDX4000

    姚棟梁博士,X射線熒光光譜領域專家

    姚博士畢業于清華大學工程物理系核電子學專業博士研究生畢業,從事分析儀器開發26年,主要從事X熒光分析技術和應用技術等研究,并參與“十三五”國家重點儀器科技攻關,獲得“光譜儀光柵二維”發明專利、“X熒光雙彎晶固定元素道分光器”專利和“X熒光光譜分析儀的熱解石墨晶體分光器”專利等,并參與起草制定了多項國家標準行業標準,是我國X熒光光譜儀行業權威專家。

八大技術優勢:

天瑞儀器WDX4000

    一、FP基本參數法

    FP(基本參數)算法是X射線熒光光譜分析的有效方法,能夠在少標樣甚至無標樣的情況下對樣品元素成分進行定性定量分析,也可以對鍍層或鍍膜厚度進行分析。 眾所周知,X射線熒光分析最大問題是元素熒光強度會受到共存元素的影響(基體吸收和增強效應),與含量通常不是線性關系?;緟捣ㄔ诠庾V的計算過程中,已經考慮到了基體效應,可以得到計算含量與已知含量之間的線性關系,使用少數已知樣品校正算法去除系統誤差,即可達到精確定量的目的。

天瑞儀器WDX4000

    二、偏振二次靶激發技術

    偏振二次靶激發技術能最大程度的去除散射背景,提高信噪比,降低檢測器的檢測限。假定由x-射線管陽極產生的x-射線是非偏振的且沿z軸方向入射到靶材(散射體)上,則沿y軸傳播的散射束即為線性偏振光。電場矢量在 v平面內振動,振動方向平行于X軸。放置在y軸上的樣品被偏振光激發,產生非偏振的熒光x-射線。因樣品和樣品支撐物在X軸方向上不產生散射輻射,將探測器放置在x軸上可充分利用偏振效應,降低彈性和非彈性散射x光子造成的本底。

天瑞儀器WDX4000

    三、超短光路設計

    由X射線發生器到達樣品,樣品受激發產生的X射線熒光到探測器的路線稱之為光路。光路經過的距離越短所受到的干擾就越少,天瑞儀器設計出超短光路技術,確保輕元素檢測結果的準確性,特別適合于RoHS環保無鹵指令檢測。

天瑞儀器WDX4000

    四、精密機械設計

    真正做到了微米級定位,微區掃描分析,空間微米級光斑的點對點對中及空間微焦斑位置的確定。一種平動與旋轉切換位置裝置,實現了小空間內的位置旋轉切換,避免了直線運動所需要的大空間以及常用旋轉運動,因為無法貼合導致的光程加長等問題。

天瑞儀器WDX4000

    五、無標樣技術

    XRF測試分析儀器一般都是采用針對標準樣本進行比對測試,在測試時受制于標樣的質量。天瑞儀器獨創無標樣技術,無需標樣即可進行全元素分析,引領行業發展趨勢和潮流。

天瑞儀器WDX4000

    六、二次靶激發技術

    XRF測試分析儀器一般都是采用針對標準樣本進行比對測試,在測試時受制于標樣的質量。天瑞儀器獨創無標樣技術,無需標樣即可進行全元素分析,引領行業發展趨勢和潮流。

天瑞儀器WDX4000

    七、信噪比增強技術

    天瑞獨有的信噪比增強技術,能有效的去除雜音信號干擾,最大限度降低元素檢出限,
    如圖SUPER XRF 1050,對食品中Pb的測定 ,最低可達到0.59ppm。

天瑞儀器WDX4000

    八、XRF核心技術(智能分析軟件)

    天瑞專利的智能分析軟件,能夠對80種元素進行精準分析,無標樣定量分析,微區分析,薄膜分析,高級次譜線分析。

榮譽證書

國家火炬計劃重點高新技術企業、重合同守信用企業認證、計量保證確認證書、國家高技術研究發展計劃(863計劃):

國家火炬計劃重點高新技術企業、重合同守信用企業認證、計量保證確認證書、國家高技術研究發展計劃(863計劃)-江蘇天瑞儀器股份有限公司

ISO9001:2008質量管理體系認證、ISO14001環境管理體系證書、OHSAS 18001 職業健康安全管理健康體系 、信息安全管理體系認證:

ISO9001:2008質量管理體系認證、ISO14001環境管理體系證書、OHSAS 18001 職業健康安全管理健康體系 、信息安全管理體系認證-江蘇天瑞儀器股份有限公司

實用專利證書:

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標準制定:

江蘇天瑞儀器股份有限公司標準制定

軟件著作權證書:

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其他證書:

Honor企業榮耀-江蘇天瑞儀器股份有限公司
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