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深圳市天瑞儀器有限公司

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江蘇天瑞儀器股份有限公司-天瑞儀器EDX3600K X熒光光譜儀

能量色散X熒光光譜儀EDXRF

天瑞儀器EDX3600K X熒光光譜儀

全元素分析儀 無機物元素分析利器

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 天瑞儀器EDX3600K X熒光光譜儀  產品詳細

X熒光光譜儀屬于先進的分析檢測儀器,隨著半導體微電子技術和計算機技術的飛速發展,傳統的光學、熱學、電化學、色譜、波譜類分析技術都已從經典的化學精密機械電子學結構、實驗室內人工操作應用模式,轉化成光、機、電、算(計算機)一體化、自動化的結構,并向智能化、小型化、在線式及儀器聯用方向發展。天瑞公司在以已掌握的成熟的臺式X熒光光譜儀技術為基礎,結合國外相關最新的技術發展成果,研制出具有自主知識產權的EDX 3600K型X熒光光譜儀。

EDX 3600K X熒光光譜儀最大的亮點在于它大鈹窗超薄口的高分辨SDD探測器和自旋式的樣品腔,產品通過了江蘇省計量科學研究院的檢測,并通過中國儀器儀表學會分析儀器分會組織的科技成果鑒定,技術達到國際先進水平。

應用領域:

專為粉未冶煉行業研發的一款高端設備,主要應用在水泥冶煉、鋼鐵冶煉、礦冶煉(銅礦、鉛礦等)、鋁冶煉、玻璃制造、耐火材料分析、各種粉未冶金分析行業、石油勘探錄井分析領域。
同時在地質、礦樣、冶金、稀土材料、環境監測、有色金屬、食品、農業等科研院所、大專院校和工礦企業中也得到廣泛應用。

性能優勢:

1.超低能量分辨率,輕元素檢測效果更佳
使用大面積鈹窗電致冷SDD探測器,探測器分辨率最低達到139eV,各項指標優于國家標準。SDD探測器具有良好的能量線
性、良好的能量分辨率,及良好的能譜特性,較高的峰背比;對Si、S、AI等輕元素的測試具有良好的分析精度。

2. 測試精度更高,檢出限更低
①專業化的樣品腔設計,帶可調速的自旋樣品腔,能有效的測定輕元素和減少樣品均一性的影響,提高樣品的測試精度。
②采用超小超真空的樣品腔設計,保證測試時達到10Pa以下,使設備的測試范圍可從F元素起測試,大大地提高測試范圍、輕元素檢出限和精度。

3. 分析速度更快,從第1秒即可得到定性定量結果
采用自主研發的數字多道技術,其最大線性計數率可達100kcps,可以更加快速的分析,從第1秒就可以得出定性定量結果,
設計成高計數率,大大提高了設備的穩定性。

4. 一鍵式智能化操作
專業軟件,先進的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件,具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作,使操作簡易,對操作人員限制小的特點。

5. 強大的自動化功能
①自動化程度高,具有自動開蓋、自動切換準直器與濾光片等功能。
②采用自動穩譜裝置,保證了儀器工作的一致性:利用解譜技術使譜峰分解,采用多參數的線性回歸方法,使元素間的吸收、排斥效應得到明顯的降低。

6. 強度校正法
具有多種測試模式設置和無限數目模式的自由添加,內置強度校正方法,可校正幾何狀態不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。

7. 完善的光路系統
自主研發的光路系統,光程更短,光路損失更少,激發效果更佳。

8. 三重安全防護功能
三重安全防護功能,自動感應,沒有樣品時儀器不工作,無射線泄漏;加厚防護測試壁;配送測試防護安全罩。

9. 安全警示系統
警告指示系統,通電時綠色指示燈亮,測試時黃色輻射指示燈閃爍,防止誤操作。

儀器配置:

鈹窗電制冷SDD探測器
自旋式樣品腔
高效超薄窗X光管
信噪比增強器SNE
超近光路增強系統
可自動開啟的測試蓋
自動切換型準直器和濾光片
真空腔體
自動穩譜裝置
90mm×70mm的液晶屏
最先進的數字多道技術
多變量非線性回歸程序
相互獨立的基體效應校正模型

技術參數:

型號:EDX3600K
X射線源:50KV、1mA
樣品腔體積:Φ40.5mm×39.5mm
分析方法:能量色散X熒光分析方法
測量元素范圍:原子序數為9~92[氟(F)到鈾(U)]之間的元素均可測量
檢測元素:同時分析元素達三十多種,可根據客戶需要增加元素
含量范圍:ppm~99.99%
檢測時間:10秒以上
檢測對象:標準粉未壓片及可以放入標準樣品杯的固體、液體及粉末
探測器及分辨率:超大超薄的SDD探測器,分辨率 為144±5eV,可選配極速探測器最低至125eV
激發源:銠靶或鎢靶光管根據客戶需求可供選擇
攝像頭:高清攝像頭
測井環境:超真空系統,10秒可抽到10Pa以下,大氣、氦氣均可以
準直器和濾光片:四組準直器(7、5、3、1mm),6種濾光片組合自動切換
自旋裝置:可調速的自旋裝置
檢出限:對樣品中的大多數元素來說,最低檢出限達5~500ppm
真空系統:超真空系統,10秒可到10Pa
數據傳輸:數字多道技術,快速分析,高計數率
測試臺:360°電動旋轉式
保護系統:樣品腔為電動控制,上蓋打開時測試已完成
樣品放置:獨特的樣品杯設計,自帶壓環,可防止樣品晃動
數字多道技術:計數率>50kcps,有效計數率高至500kcps
外形尺寸及重量:669mm×540mm×874mm,90KG
操作環境濕度:≤90%
操作環境溫度:15℃~30℃

軟件優勢:

采用公司最新的能譜EDXRF軟件,先進的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件,具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作,操作簡易,對操作人員限制小的特點。
具有多種測試模式設置和無限數目模式自由添加,內置強度校正方法,可校正幾何狀態不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。
全新的軟件界面和內核,采用FP和EC軟件組合的方法,應用面更加廣泛。


為什么選擇天瑞儀器?

天瑞儀器EDX3600K X熒光光譜儀

    一、行業引領者:

    2011年深交所上市公司(代碼:300165),
    分析儀器行業內首屈一指的引路者

    天瑞儀器作為國內化學分析行業的領航者,專業生產光譜儀、色譜儀、質譜儀為主的高端分析儀器。主要應用于環境保護與安全(電子、電氣、玩具等各類消費品行業、食品安全、空氣、土壤、水質污染檢測等)、工業生產質量控制(冶金、建材、石油、化工、貴金屬、醫療器械等)、礦產與資源(地質、采礦)、商品檢驗、質量檢驗甚至人體微量元素的檢驗等眾多領域。 核心專利技術同行業中第一;銷售量同行業中第一 ;產品種類同行業中第一 ;

天瑞儀器EDX3600K X熒光光譜儀

    二、標準的制定者:

    天瑞儀器參與起草和制定了18項國家標準、
    行業標準,自信于行業的話語權。

    GBT 28020-2011 飾品 有害元素的測定 X射線熒光光譜法
    GBT 31364-2015能量色散X射線熒光光譜儀主要性能測試方法
    GBT 33352-2016電子電氣產品中限用物質篩選應用通則 x射線熒光光譜法
    GB/T 25934.1-2010高純金化學分析方法 乙酸乙酯萃取分離ICP-AES光譜法 測定雜質元素的含量
    GB/T 27730-2011玩具產品中富馬酸二甲酯含量的測定 氣相色譜-質譜聯用GC-MS法
    GB/T 28020-2011飾品 有害元素的測定 X射線熒光光譜法
    GBT 22788-2008玩具表面涂層中總鉛含量的測定
    GB/T 30419-2013玩具材料中可遷移元素銻砷鋇鎘鉻鉛汞硒的測定電感耦合等離子體原子發射光譜法
    GB/T 31364-2015能量色散X射線熒光光譜儀主要性能測試方法
    JBT 12962.1-2016能量色散X射線熒光光譜儀第1部分:通用技術
    JBT 12962.2-2016能量色散X射線熒光光譜儀第2部分:元素分析儀
    JBT 12962.3-2016能量色散X射線熒光光譜儀第3部分:鍍層厚度分析儀
    LS_T 6115-2016.4672 LST6115-2016《糧油檢驗 稻谷中鎘含量快速測定X射線熒光光譜法》標準
    (未完待續……)

天瑞儀器EDX3600K X熒光光譜儀

    三、技術開創者:

    252項實用專利,填補國內空白,打破進口壟斷中前行

    截至2017年末,天瑞儀器公司及其子公司已獲得國家知識產權局授權專利252項,
    《計算機軟件著作權登記證書》91項;
    其中發明專利115項,
    實用新型專利80項,
    外觀專利57項。

天瑞儀器EDX3600K X熒光光譜儀

    四、服務踐行者:

    天瑞儀器不忘初心,與客戶同命運,共成長。

    天瑞儀器的客戶有:中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家博物館、
    中國國家地質實驗測試中心、中國地質科學院、中國科學院長春光機所、中國泰爾實驗室、
    等政府部門和知名檢測機構,
    以及中石油、中石化、華為、海爾、創維、方太、美菱、光寶、TCL、LG、美的、三星、華測(CTI)、中航電測等。

研發實力:

天瑞儀器EDX3600K X熒光光譜儀

    天瑞分析測試儀器研究院

    天瑞分析測試儀器研究院下設三個中心,分別為“分析儀器研發中心”、“理化分析測試中心”和“分析測試技術應用開發中心”。 天瑞分析測試儀器研究院日前人員構成:院士1名,博士11名,高級工程師13名,碩士17名,知名大學本科研發人員50名。

天瑞儀器EDX3600K X熒光光譜儀

    劉召貴博士,國務院特殊津貼專家

    劉召貴先生:清華大學核物理專業博士研究生畢業。先后被評為江蘇省優秀企業家、江蘇省有突出貢獻的中青年專家、昆山市首屆科技功臣、國家科技部“科技創新創業人才”。經國務院批準,享受國務院政府特殊津貼。

天瑞儀器EDX3600K X熒光光譜儀

    姚棟梁博士,X射線熒光光譜領域專家

    姚博士畢業于清華大學工程物理系核電子學專業博士研究生畢業,從事分析儀器開發26年,主要從事X熒光分析技術和應用技術等研究,并參與“十三五”國家重點儀器科技攻關,獲得“光譜儀光柵二維”發明專利、“X熒光雙彎晶固定元素道分光器”專利和“X熒光光譜分析儀的熱解石墨晶體分光器”專利等,并參與起草制定了多項國家標準行業標準,是我國X熒光光譜儀行業權威專家。

八大技術優勢:

天瑞儀器EDX3600K X熒光光譜儀

    一、FP基本參數法

    FP(基本參數)算法是X射線熒光光譜分析的有效方法,能夠在少標樣甚至無標樣的情況下對樣品元素成分進行定性定量分析,也可以對鍍層或鍍膜厚度進行分析。 眾所周知,X射線熒光分析最大問題是元素熒光強度會受到共存元素的影響(基體吸收和增強效應),與含量通常不是線性關系?;緟捣ㄔ诠庾V的計算過程中,已經考慮到了基體效應,可以得到計算含量與已知含量之間的線性關系,使用少數已知樣品校正算法去除系統誤差,即可達到精確定量的目的。

天瑞儀器EDX3600K X熒光光譜儀

    二、偏振二次靶激發技術

    偏振二次靶激發技術能最大程度的去除散射背景,提高信噪比,降低檢測器的檢測限。假定由x-射線管陽極產生的x-射線是非偏振的且沿z軸方向入射到靶材(散射體)上,則沿y軸傳播的散射束即為線性偏振光。電場矢量在 v平面內振動,振動方向平行于X軸。放置在y軸上的樣品被偏振光激發,產生非偏振的熒光x-射線。因樣品和樣品支撐物在X軸方向上不產生散射輻射,將探測器放置在x軸上可充分利用偏振效應,降低彈性和非彈性散射x光子造成的本底。

天瑞儀器EDX3600K X熒光光譜儀

    三、超短光路設計

    由X射線發生器到達樣品,樣品受激發產生的X射線熒光到探測器的路線稱之為光路。光路經過的距離越短所受到的干擾就越少,天瑞儀器設計出超短光路技術,確保輕元素檢測結果的準確性,特別適合于RoHS環保無鹵指令檢測。

天瑞儀器EDX3600K X熒光光譜儀

    四、精密機械設計

    真正做到了微米級定位,微區掃描分析,空間微米級光斑的點對點對中及空間微焦斑位置的確定。一種平動與旋轉切換位置裝置,實現了小空間內的位置旋轉切換,避免了直線運動所需要的大空間以及常用旋轉運動,因為無法貼合導致的光程加長等問題。

天瑞儀器EDX3600K X熒光光譜儀

    五、無標樣技術

    XRF測試分析儀器一般都是采用針對標準樣本進行比對測試,在測試時受制于標樣的質量。天瑞儀器獨創無標樣技術,無需標樣即可進行全元素分析,引領行業發展趨勢和潮流。

天瑞儀器EDX3600K X熒光光譜儀

    六、二次靶激發技術

    XRF測試分析儀器一般都是采用針對標準樣本進行比對測試,在測試時受制于標樣的質量。天瑞儀器獨創無標樣技術,無需標樣即可進行全元素分析,引領行業發展趨勢和潮流。

天瑞儀器EDX3600K X熒光光譜儀

    七、信噪比增強技術

    天瑞獨有的信噪比增強技術,能有效的去除雜音信號干擾,最大限度降低元素檢出限,
    如圖SUPER XRF 1050,對食品中Pb的測定 ,最低可達到0.59ppm。

天瑞儀器EDX3600K X熒光光譜儀

    八、XRF核心技術(智能分析軟件)

    天瑞專利的智能分析軟件,能夠對80種元素進行精準分析,無標樣定量分析,微區分析,薄膜分析,高級次譜線分析。

榮譽證書

國家火炬計劃重點高新技術企業、重合同守信用企業認證、計量保證確認證書、國家高技術研究發展計劃(863計劃):

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ISO9001:2008質量管理體系認證、ISO14001環境管理體系證書、OHSAS 18001 職業健康安全管理健康體系 、信息安全管理體系認證:

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實用專利證書:

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標準制定:

江蘇天瑞儀器股份有限公司標準制定

軟件著作權證書:

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其他證書:

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