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江蘇天瑞儀器股份有限公司-天瑞儀器EDX 3000 PLUS新型X熒光貴金屬檢測儀

能量色散X熒光光譜儀EDXRF

天瑞儀器EDX 3000 PLUS新型X熒光貴金屬檢測儀

貴金屬 新型檢測儀

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 天瑞儀器EDX 3000 PLUS新型X熒光貴金屬檢測儀  產品詳細

天瑞新型X熒光貴金屬檢測儀 EDX 3000 PLUS 在測量金、銀、鉑、鈀等貴金屬含量上功能獨到。采用25mm2大面積鈹窗探測器,可準確無誤地分析出黃金,鉑金和K金飾品中金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳的含量,測試結果完全符合國標GB/T 18043-2000要求。

黃金貴重,儀器貴精。EDX 3000 PLUS最閃耀的亮點在于超高精確度、超高分辨率、更清晰的攝像頭、一鍵式智能操作,一切讓貴金屬檢測如此簡單!

性能優勢

超高分辨率,世界一流
采用世界上最好的SDD硅漂移探測器 ,分辨率為139±5ev ,而常規的Si-PIN探測器,分辨率為160±5eV, 能更好的檢測鉑金中銥和金的含量。

超高精確度,性能最優
使用25mm 2大面積鈹窗探測器,大大提高樣品特征X熒光的接收能力。配合數字多道分析器技術,提高分析速度,總體提高系統處理能力,計數率最大可達8萬,比Si-PIN 6m-m2探頭提高了5-10倍,精度提高了2-4倍。

超清晰攝像頭,精確定位
采用新型工業級相機,樣品圖像更加清晰,輕松實現精準定位。

小準直器,輕松實現精小部位測試: 
提供多種準直器,直徑最小達0.2mm,可輕松實現精小部位的精確測試,同時可根據測試需求電動切換準直器,使測量更加輕松更加準確。

一鍵式智能式操作,省去選曲線煩惱
FP法的完整使用,只需一鍵操作即可智能化自動匹配曲線,操作一步到位。

技術參數

元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)
分析檢出限可達ppm級
分析含量一般為ppm到99.99%
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
多次測量重復性可達0.02%(含量96%以上)
長期工作穩定性為0.05%(含量96%以上)
溫度適應范圍為15℃至30℃
電源:交流220V±5V,建議配置交流凈化穩壓電源
能量分辨率:139±5eV

儀器配置

移動樣品平臺
信噪比增強器
SDD探測器
數字多道分析系統
高低壓電源
大功率X光管
計算機及噴墨打印機
外觀尺寸: 550×416×333mm
樣品腔尺寸:460×298×98mm
質量:45Kg

應用領域

黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測


為什么選擇天瑞儀器?

天瑞儀器EDX 3000 PLUS新型X熒光貴金屬檢測儀

    一、行業引領者:

    2011年深交所上市公司(代碼:300165),
    分析儀器行業內首屈一指的引路者

    天瑞儀器作為國內化學分析行業的領航者,專業生產光譜儀、色譜儀、質譜儀為主的高端分析儀器。主要應用于環境保護與安全(電子、電氣、玩具等各類消費品行業、食品安全、空氣、土壤、水質污染檢測等)、工業生產質量控制(冶金、建材、石油、化工、貴金屬、醫療器械等)、礦產與資源(地質、采礦)、商品檢驗、質量檢驗甚至人體微量元素的檢驗等眾多領域。 核心專利技術同行業中第一;銷售量同行業中第一 ;產品種類同行業中第一 ;

天瑞儀器EDX 3000 PLUS新型X熒光貴金屬檢測儀

    二、標準的制定者:

    天瑞儀器參與起草和制定了18項國家標準、
    行業標準,自信于行業的話語權。

    GBT 28020-2011 飾品 有害元素的測定 X射線熒光光譜法
    GBT 31364-2015能量色散X射線熒光光譜儀主要性能測試方法
    GBT 33352-2016電子電氣產品中限用物質篩選應用通則 x射線熒光光譜法
    GB/T 25934.1-2010高純金化學分析方法 乙酸乙酯萃取分離ICP-AES光譜法 測定雜質元素的含量
    GB/T 27730-2011玩具產品中富馬酸二甲酯含量的測定 氣相色譜-質譜聯用GC-MS法
    GB/T 28020-2011飾品 有害元素的測定 X射線熒光光譜法
    GBT 22788-2008玩具表面涂層中總鉛含量的測定
    GB/T 30419-2013玩具材料中可遷移元素銻砷鋇鎘鉻鉛汞硒的測定電感耦合等離子體原子發射光譜法
    GB/T 31364-2015能量色散X射線熒光光譜儀主要性能測試方法
    JBT 12962.1-2016能量色散X射線熒光光譜儀第1部分:通用技術
    JBT 12962.2-2016能量色散X射線熒光光譜儀第2部分:元素分析儀
    JBT 12962.3-2016能量色散X射線熒光光譜儀第3部分:鍍層厚度分析儀
    LS_T 6115-2016.4672 LST6115-2016《糧油檢驗 稻谷中鎘含量快速測定X射線熒光光譜法》標準
    (未完待續……)

天瑞儀器EDX 3000 PLUS新型X熒光貴金屬檢測儀

    三、技術開創者:

    252項實用專利,填補國內空白,打破進口壟斷中前行

    截至2017年末,天瑞儀器公司及其子公司已獲得國家知識產權局授權專利252項,
    《計算機軟件著作權登記證書》91項;
    其中發明專利115項,
    實用新型專利80項,
    外觀專利57項。

天瑞儀器EDX 3000 PLUS新型X熒光貴金屬檢測儀

    四、服務踐行者:

    天瑞儀器不忘初心,與客戶同命運,共成長。

    天瑞儀器的客戶有:中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家博物館、
    中國國家地質實驗測試中心、中國地質科學院、中國科學院長春光機所、中國泰爾實驗室、
    等政府部門和知名檢測機構,
    以及中石油、中石化、華為、海爾、創維、方太、美菱、光寶、TCL、LG、美的、三星、華測(CTI)、中航電測等。

研發實力:

天瑞儀器EDX 3000 PLUS新型X熒光貴金屬檢測儀

    天瑞分析測試儀器研究院

    天瑞分析測試儀器研究院下設三個中心,分別為“分析儀器研發中心”、“理化分析測試中心”和“分析測試技術應用開發中心”。 天瑞分析測試儀器研究院日前人員構成:院士1名,博士11名,高級工程師13名,碩士17名,知名大學本科研發人員50名。

天瑞儀器EDX 3000 PLUS新型X熒光貴金屬檢測儀

    劉召貴博士,國務院特殊津貼專家

    劉召貴先生:清華大學核物理專業博士研究生畢業。先后被評為江蘇省優秀企業家、江蘇省有突出貢獻的中青年專家、昆山市首屆科技功臣、國家科技部“科技創新創業人才”。經國務院批準,享受國務院政府特殊津貼。

天瑞儀器EDX 3000 PLUS新型X熒光貴金屬檢測儀

    姚棟梁博士,X射線熒光光譜領域專家

    姚博士畢業于清華大學工程物理系核電子學專業博士研究生畢業,從事分析儀器開發26年,主要從事X熒光分析技術和應用技術等研究,并參與“十三五”國家重點儀器科技攻關,獲得“光譜儀光柵二維”發明專利、“X熒光雙彎晶固定元素道分光器”專利和“X熒光光譜分析儀的熱解石墨晶體分光器”專利等,并參與起草制定了多項國家標準行業標準,是我國X熒光光譜儀行業權威專家。

八大技術優勢:

天瑞儀器EDX 3000 PLUS新型X熒光貴金屬檢測儀

    一、FP基本參數法

    FP(基本參數)算法是X射線熒光光譜分析的有效方法,能夠在少標樣甚至無標樣的情況下對樣品元素成分進行定性定量分析,也可以對鍍層或鍍膜厚度進行分析。 眾所周知,X射線熒光分析最大問題是元素熒光強度會受到共存元素的影響(基體吸收和增強效應),與含量通常不是線性關系?;緟捣ㄔ诠庾V的計算過程中,已經考慮到了基體效應,可以得到計算含量與已知含量之間的線性關系,使用少數已知樣品校正算法去除系統誤差,即可達到精確定量的目的。

天瑞儀器EDX 3000 PLUS新型X熒光貴金屬檢測儀

    二、偏振二次靶激發技術

    偏振二次靶激發技術能最大程度的去除散射背景,提高信噪比,降低檢測器的檢測限。假定由x-射線管陽極產生的x-射線是非偏振的且沿z軸方向入射到靶材(散射體)上,則沿y軸傳播的散射束即為線性偏振光。電場矢量在 v平面內振動,振動方向平行于X軸。放置在y軸上的樣品被偏振光激發,產生非偏振的熒光x-射線。因樣品和樣品支撐物在X軸方向上不產生散射輻射,將探測器放置在x軸上可充分利用偏振效應,降低彈性和非彈性散射x光子造成的本底。

天瑞儀器EDX 3000 PLUS新型X熒光貴金屬檢測儀

    三、超短光路設計

    由X射線發生器到達樣品,樣品受激發產生的X射線熒光到探測器的路線稱之為光路。光路經過的距離越短所受到的干擾就越少,天瑞儀器設計出超短光路技術,確保輕元素檢測結果的準確性,特別適合于RoHS環保無鹵指令檢測。

天瑞儀器EDX 3000 PLUS新型X熒光貴金屬檢測儀

    四、精密機械設計

    真正做到了微米級定位,微區掃描分析,空間微米級光斑的點對點對中及空間微焦斑位置的確定。一種平動與旋轉切換位置裝置,實現了小空間內的位置旋轉切換,避免了直線運動所需要的大空間以及常用旋轉運動,因為無法貼合導致的光程加長等問題。

天瑞儀器EDX 3000 PLUS新型X熒光貴金屬檢測儀

    五、無標樣技術

    XRF測試分析儀器一般都是采用針對標準樣本進行比對測試,在測試時受制于標樣的質量。天瑞儀器獨創無標樣技術,無需標樣即可進行全元素分析,引領行業發展趨勢和潮流。

天瑞儀器EDX 3000 PLUS新型X熒光貴金屬檢測儀

    六、二次靶激發技術

    XRF測試分析儀器一般都是采用針對標準樣本進行比對測試,在測試時受制于標樣的質量。天瑞儀器獨創無標樣技術,無需標樣即可進行全元素分析,引領行業發展趨勢和潮流。

天瑞儀器EDX 3000 PLUS新型X熒光貴金屬檢測儀

    七、信噪比增強技術

    天瑞獨有的信噪比增強技術,能有效的去除雜音信號干擾,最大限度降低元素檢出限,
    如圖SUPER XRF 1050,對食品中Pb的測定 ,最低可達到0.59ppm。

天瑞儀器EDX 3000 PLUS新型X熒光貴金屬檢測儀

    八、XRF核心技術(智能分析軟件)

    天瑞專利的智能分析軟件,能夠對80種元素進行精準分析,無標樣定量分析,微區分析,薄膜分析,高級次譜線分析。

榮譽證書

國家火炬計劃重點高新技術企業、重合同守信用企業認證、計量保證確認證書、國家高技術研究發展計劃(863計劃):

國家火炬計劃重點高新技術企業、重合同守信用企業認證、計量保證確認證書、國家高技術研究發展計劃(863計劃)-江蘇天瑞儀器股份有限公司

ISO9001:2008質量管理體系認證、ISO14001環境管理體系證書、OHSAS 18001 職業健康安全管理健康體系 、信息安全管理體系認證:

ISO9001:2008質量管理體系認證、ISO14001環境管理體系證書、OHSAS 18001 職業健康安全管理健康體系 、信息安全管理體系認證-江蘇天瑞儀器股份有限公司

實用專利證書:

實用專利證書-江蘇天瑞儀器股份有限公司

標準制定:

江蘇天瑞儀器股份有限公司標準制定

軟件著作權證書:

軟件著作權證書-江蘇天瑞儀器股份有限公司

其他證書:

Honor企業榮耀-江蘇天瑞儀器股份有限公司
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