天瑞儀器
Skyray Instrument
智能型 THICK 800A
性能優勢
高端配置——采用高分辨率SDD探測器;分辨率高達140eV
上照式設計——實現微小不規則表面樣品如弧形,拱形,凹槽,螺紋等異形的快、準、穩高效檢測高精度自動化的X軸Y軸Z軸的聯動裝置實現對樣品的精準對焦快速檢測采用高度自動定位激光,可快速精準定位測試高度,以滿足不同尺寸的鍍層測試
多種準直孔可供選擇——準直孔∶0.05*0.3mm;中0.1mm;中0.2mm;中0.3mm;中0.5mm定位精準——樣品可快速精準定位
操作簡易——全自動智能集成設計,讓檢測輕松完成
技術優勢
儀器配置高
智能型Thick 800A采用的是業內最高端的SDD半導體電制冷探測器,分辨率可達140eV,可以很好的區分相鄰元素譜峰。
部
以Au/Ni/Cu鍍層為例,正比計數盒儀器譜圖如圖一,從譜圖可
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以看出銅鎳兩元素的譜峰重疊嚴重,金的峰形與樣品本底重疊;不利 0 7 6
圖1
于元素準確分析。
圖二是半導體SDD儀器測試Au/Ni/Cu的光譜圖,從譜圖可以看出銅鎳金這三個元素的譜峰得到很明顯的區分,有利于元素精準分析。
200
圖2
聚焦光路設計留
Clliaor
智能型Thick 800A采用獨特的光路交換裝置,讓X射線與攝像光
hute7
Dtietor.
處于同一垂直線,達到激光點與測試點一體,且X光高度聚焦;配合
Camera
FP軟件達到對焦變焦功能,實現微小不規則樣品的精準測試; 高集
Fods Laser
成的光路交換裝置與接收器的角度可縮小一倍,有效的減少弧度傾斜
Miror Bracket
放樣帶來的誤差。